• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Designing a Robust Mesh of Clusters FPGA » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2950560]
• Literatura piękna
 [1849509]

  więcej...
• Turystyka
 [71097]
• Informatyka
 [151150]
• Komiksy
 [35848]
• Encyklopedie
 [23178]
• Dziecięca
 [617388]
• Hobby
 [139064]
• AudioBooki
 [1657]
• Literatura faktu
 [228597]
• Muzyka CD
 [383]
• Słowniki
 [2855]
• Inne
 [445295]
• Kalendarze
 [1464]
• Podręczniki
 [167547]
• Poradniki
 [480102]
• Religia
 [510749]
• Czasopisma
 [516]
• Sport
 [61293]
• Sztuka
 [243352]
• CD, DVD, Video
 [3414]
• Technologie
 [219456]
• Zdrowie
 [101002]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2311]
• Puzzle, gry
 [3459]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8079]
Kategorie szczegółowe BISAC

Designing a Robust Mesh of Clusters FPGA

ISBN-13: 9783659662836 / Angielski / Miękka / 2015 / 116 str.

Ben Dhia Arwa;Naviner Lirida
Designing a Robust Mesh of Clusters FPGA Ben Dhia Arwa 9783659662836 LAP Lambert Academic Publishing - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Designing a Robust Mesh of Clusters FPGA

ISBN-13: 9783659662836 / Angielski / Miękka / 2015 / 116 str.

Ben Dhia Arwa;Naviner Lirida
cena 245,00
(netto: 233,33 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 245,00
Termin realizacji zamówienia:
ok. 10-14 dni roboczych
Dostawa w 2026 r.

Darmowa dostawa!

This book deals with fault tolerance in Field Programmable Gate Arrays (FPGAs). Reliability core concepts are first presented. The types of faults and their masking phenomena are then explained. The most common fault tolerance analysis methods are detailed, as well as hardening techniques aimed at enhancing reliability. An introduction to FPGAs is also given. Then, for reasons that are explained, the focus is on the Mesh of Clusters FPGA architecture whose basic blocks (logic and interconnect) are hardened in different ways and at different granularity levels (from RTL to transistor level). Tradeoff between reliability improvement and consequent penalties is highlighted.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electronics - General
Wydawca:
LAP Lambert Academic Publishing
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783659662836
Rok wydania:
2015
Ilość stron:
116
Waga:
0.18 kg
Wymiary:
22.86 x 15.24 x 0.71
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Arwa Ben Dhia is currently a researcher at Télécom ParisTech, Paris, France. She received the titles of Eng. and Dr. in 2011 and 2014, respectively from Télécom ParisTech.Lirida Naviner is a full professor in the same institution, and head of the research team working on reliability in digital circuits.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia