CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 » książka
topmenu
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
ISBN-13: 9781605111285 / Angielski / Twarda / 2009 / 194 str.
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
ISBN-13: 9781605111285 / Angielski / Twarda / 2009 / 194 str.
cena 482,50
(netto: 459,52 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 437,13
(netto: 459,52 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 437,13
Termin realizacji zamówienia:
ok. 30 dni roboczych.
ok. 30 dni roboczych.
Darmowa dostawa!
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Widoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej. Nie gwarantujemy zgodności okładki z prezentowanym zdjęciem.
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
