Wyszukiwanie zaawansowane
Kategorie
Kategorie BISAC
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Opinie
Pomoc
Załóż konto
Zaloguj się
książki » Zorian, Yervant
zaloguj się
|
załóż konto
koszyk
konto
szukaj
topmenu
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Kategorie główne
•
Nauka
[2371491]
•
Literatura piękna
[1582132]
więcej...
•
Turystyka
[61825]
•
Informatyka
[129367]
•
Komiksy
[28222]
•
Encyklopedie
[22045]
•
Dziecięca
[508282]
•
Hobby
[104091]
•
AudioBooki
[2271]
•
Literatura faktu
[193523]
•
Muzyka CD
[833]
•
Słowniki
[2868]
•
Inne
[394351]
•
Kalendarze
[717]
•
Podręczniki
[155235]
•
Poradniki
[407878]
•
Religia
[442508]
•
Czasopisma
[470]
•
Sport
[54630]
•
Sztuka
[210798]
•
CD, DVD, Video
[4020]
•
Technologie
[176981]
•
Zdrowie
[89007]
•
Książkowe Klimaty
[123]
•
Zabawki
[3924]
•
Puzzle, gry
[3388]
•
Literatura w języku ukraińskim
[238]
•
Art. papiernicze i szkolne
[12616]
Kategorie szczegółowe BISAC
Zorian, Yervant
SAMIHA MOURAD, PhD, is Professor of Electrical Engineering at Santa Clara University, Santa Clara, California. YERVANT ZORIAN, PhD, is Chief Technology Advisor at Logic Vision, Inc., San Jose, California.
[ ZOBACZ WSZYSTKIE KSIĄŻKI AUTORA ]
Principles of Testing Electronic Systems
On-Line Testing for VLSI
Embedded Processor-Based Self-Test
Multi-Chip Module Test Strategies
Embedded Processor-Based Self-Test
On-Line Testing for VLSI
Multi-Chip Module Test Strategies
Czytaj nas na: