Vierter Internationaler Kongress Für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International

ISBN-13: 9783642494819 / Niemiecki / Miękka / 1960 / 851 str.

W. Bargmann; G. Mollenstedt; H. Niehrs

Opis

Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses fur Elektronenmikro. skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmass die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren fur viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vortrage und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Landern gehalten, waren zu veroffentlichen, wenn wir der Tradition der fruheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht moglich, alle auf einem Internationalen Kongress fur Elektronenmikroskopie gehaltenen Vortrage in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthalt sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und uber die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Gerate, als auch Mitteilungen uber die Anwendung des Elek. tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein. schliesslich der Praparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten uber die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Losung biologischer und medizinischer Fragestellungen und uber die entsprechenden Pra parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vortrage auf dem Kongress gehalten wurden, waren wir bemuht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehoriger Themen zu ermoglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Banden beigefugt sind, vermitteln eine ausreichende Uber. sicht. Jeder Band enthalt ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft fur Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrusste mit dankbarer Anerkennung, dass der Springer."

Spis treści

Eröffnungs-Ansprache.- Opening remarks.- Festvortrag.- Geschichte des Elektrons.- A. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren.- 1. Kathoden.- Über die Arbeitsweise und die elektronenoptischen Eigenschaften der Spitzenkathode.- The point cathode as an electron source.- Recent progress in field emission at high current densities.- Zur Frage der Stabilität der Feldelektronenemission.- Production of square temperature waves in filaments of field emission microscopes operating at low temperatures.- Massenspektrometrische Untersuchung chemischer Reaktionen mit Hilfe einer Feldemissions-Ionenquelle.- Diskussionsbemerkung (zu Beitrag H. D. Beckey S. 28).- Messungen an Elektronenstrahlerzeugern.- Der Boersch-Effekt und ein Ansatz zu seiner theoretischen Deutung.- Potential well modulation of electron beams.- Versuche an einer Gasentladungskathode.- 2. Linsen und Ablenksysteme.- Ein kombiniertes Integriergerät zur genaueren Berechnung der Felder elektronenoptischer Abbildungssysteme.- Über eine Zusatzlinse zur Kompensation der Farbabhängigkeit der Vergrößerung im elektrostatischen Elektronenmikroskop.- The development of the lens system in the Hitachi electron microscope.- Permanent magnet lens systems and their characteristics.- Mesure et correction de l’aberration d’ouverture des lentilles quadrupolaires magnétiques.- Stigmatoren für ein Mehrlinsen-Mikroskop.- Ein elektrostatischer Feinstrahlkondensor.- Elektronenoptisches System zur Herstellung feiner Elektronensonden.- An electrostatic-electromagnetic alignment section for the electron microscope.- 3. Objekteinrichtungen.- Ein Präparattisch mit universeller Bewegungseinrichtung.- A protection shutter for the specimen in the electron microscope.- Gas reaction on the specimen.- Eine Kammer für die Untersuchung von Objekten mit Gasumgebung.- Die Objektverschmutzung und ihre Verhütung.- Improvement of the specimen cooling device for the electron microscope.- Improvement of the specimen heating device for the electron microscope.- A high temperature stage for the Elmiskop I.- Experimentelle Untersuchung der thermischen Einwirkung des Elektronenstrahls auf das Objekt im Elektronenmikroskop.- 4. Bildaufzeichnungsverfahren.- Verwendung eines Bildverstärkers zur Leuchtdichte-Steigerung des Bildes im Elektronenmikroskop.- Hochauflösende Leuchtschirme für die Elektronenmikroskopie.- Kornlose und höchstauflösende Fixierung von Ionen- und Elektronen-Bildern.- Die informationstheoretische Grenze bei der Abbildung lebender Substanz im Elektronenmikroskop und über Möglichkeiten zur Annäherung an die Grenze.- Eine einfache Sonde zur Bestimmung von Elektronenstrahlintensitäten am Endbildschirm von Übermikroskopen.- 5. Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze).- Das Verhalten photographischer Schichten bei Elektronenbestrahlung.- Elektronenvielfachstreuung in photographischen Emulsionen.- Punktauflösung von extrem feinkörnigen und extrem empfindlichen Photoemulsionen.- The effect of grain of photographic emulsion on the resolution of an electron microscope.- The decomposition of silver azide by electrons.- Extruded silver filaments.- Cinematographic studies on the interaction of electrons with microcrystals of silver iodide.- Neue elektronenmikroskopische Untersuchungen zum Mechanismus der photographischen Entwicklung.- 6. Stereoaufnahme.- Stereoscopy and resolution in electron microscopy.- Präparative Hilfsmittel zur quantitativen Auswertung elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen.- Methoden und Ergebnisse von Ausmessungen elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen mit dem „Elmigraph I“.- Ein einfaches Verfahren zur Auswertung elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen.- 7. Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung.- Neue Gesichtspunkte bei der Gestaltung von Hochvakuumanlagen in der Elektronenmikroskopie.- Objektverschmutzung durch Kohlenwasserstoffe als vakuumtechnisches Problem.- Über eine einfache elektronische Hochspannungsquelle für 50 kV mit hoher Konstanz.- Meßgeräte zur Untersuchung der Schwankungen von Hochspannung und Linsenstrom beim Elektronenmikroskop mit elektromagnetischen Linsen.- 8. Durchstrahlungsmikroskope.- A new high voltage (350 kV) universal electron microscope and its applications.- Ein 300-kV-Elektronenmikroskop und einige Ergebnisse seiner Anwendung für verschiedene Forschungszwecke.- A two-stage electron microscope using a pointed filament.- Some design features of a new Philips Electron Microscope.- Ein 70-kV-Elektronenmikroskop mit kalter Kathode und elektrostatischem Objektiv.- The new electron microscope “Tronscope TRS-50” Part I: Construction.- The new electron microscope “Tronscope TRS-50” Part II: Method of alignment and inspection.- Ein vereinfachtes 50-kV-Elektronenmikroskop.- Ein Hilfselektronenmikroskop für Kurs- und Routinebetrieb.- An improved operating method for the Siemens Elmiskop I.- Über eine neue Einrichtung zur Feinstrahlbeugung.- 9. Reflexions- und Emissionsmikroskopie.- The examination of single crystals by reflection electron microscopy.- Microscopie électronique à émission secondaire et microscopie électronique par réflexion: développements récents.- Über ein Elektronenmikroskop und ein Verfahren zur direkten Sichtbarmachung von isolierenden Oberflächen.- Association d’un microscope à émission et d’un diffractographe à réflexion.- Neuere emissionsmikroskopische Erfahrungen mit Ionen-, Elektronen- und UV-ausgelösten Elektronen.- Ein Elektronen-Emissions-Mikroskop für metallkundliche Anwendungen.- Microscopie à émission ionique négative.- Über einige anwendungstechnische Erfahrungen mit einem Emissions-Mikroskop.- Über einige Probleme der Reflexionsmikroskopie.- 10. Interferenzmikroskopie und Interferometrie.- Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine nwendung zur Messung von inneren Potentialen.- Elektronen-Interferenz-Mikroskopie.- Interférométrie électronique et microscopie électronique interférentielle.- 11. Röntgen-Projektionsmikroskopie.- The projection X-ray microscope and related microanalytical techniques.- X-ray microscopy using point sources.- Selection of spectra for X-ray microscopy.- Contrast improvement in X-ray projection microscopy.- Untersuchungen über das Röntgenstrahlmikroskop vom Standpunkt der Informationsübertragung.- 12. Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie.- An X-ray micro-analyzer of improved design.- Microanalysis with the X-ray scanning microscope.- Recent developments in scanning electron microscopy.- Microscopie électronique par balayage.- 13. Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen.- Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen.- Herstellung feiner Fräsungen mit Elektronen-Strahlen.- B. Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild.- 1. Streuung am Objekt und Bildkontrast.- Characteristic energy losses of electrons.- Über den Einfluß der unelastisch gestreuten Elektronen auf den Flächenkontrast im Elektronenmikroskop.- Messung der elastischen und unelastischen Streuverteilung mittelschneller (15—50-keV-) Elektronen mit Hilfe der Gegenfeldmethode.- A simple method of estimating the screening radius of an atom.- Die Streumatrix für die Elektronenbeugung an durchstrahlten Kristallplatten und ihre Verwendung für die Berechnung elektronenoptischer Kristallgitterbilder.- The variations in background intensity of electron diffraction patterns.- The contrast of transmission electron diffraction patterns.- Low voltage electron microscopy.- Bildentstehung und Bildkontrast.- Electron phase microscope.- Kritisches zu gewohnten Auffassungen über Kontrastentstehung.- 2. Abbildung von Kristallgitter-Perioden.- Observations on crystal lattices and imperfections by transmission electron microscopy through thin films.- Theoretical interpretation on the electron microscopic image of crystal lattice and its moiré pattern.- The direct observation of the long period of the ordered alloy CuAu(II) by means of electron microscope.- Observations on order-disorder and domain structures in thin films of copper-gold alloys.- Electron microscopic observation of periodic structure.- Electron microscopy of ribonuclease crystals.- Observations at high resolution on several indanthrene dyes.- Zum Einfluß von Bildfehlern und Beleuchtung auf die Abbildung von Kristallstrukturen.- Modellversuche zur Beugung und Abbildung gestörter Gitter.- 3. Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moirés.- Moiré patterns from metal lattices.- Electron microscopic and diffraction studies of superimposed lamellar crystals.- Mehrfachbeugung und Moiré bei orientiert verwachsenen Kristalldoppelschichten.- Moiré patterns and other crystallinity effects in the electron microscopy of polyethylene single crystals.- The structural significance of moiré patterns.- Zur Theorie der Moiré-Muster.- C. Elektronenmikroskopische Präparationstechnik.- 1. Trägerfolien.- Stable Substrates on annular discs.- The use of charged polymers for supporting films for the electron microscopy of macromolecules.- The mechanical strength of thin films under electron bombardment.- 2. Dünne Objektschichten.- Einfluß verschiedener Präparationsmethoden auf die Korngrößenverteilung von feindispersen Substanzen.- La technique des coupes ultra-minces appliquée à l’étude des charbons.- Nouvelle méthode de préparation de films métalliques minces et applications en métallurgie.- Une méthode rapide d’amincissement des échantillons métalliques et quelques unes de ses applications en métallographie.- Oxydation dünner Metall- und Fluoridschichten im Elektronenmikroskop.- 3. Oberflächen.- Cathodic etching in a magnetic field.- Le décapage ionique appliqué à la diffraction électronique par réflexion.- Ionenätzung im Elektronendiffraktographen.- Über Grenzflächenreaktionen zur Entwicklung von üblicherweise im Abdruck nicht erkennbaren Oberflächenstrukturen.- Influence du bombardement ionique sur certaines structures superficielles.- Einfluß des Ätzvorganges auf die Gefügewiedergabe im elektronenmikroskopischen Bild.- Réactif d’attaque amélioré des aciers destiné à la microscopie électronique.- 4. Aufdampf- und Abdruckverfahren.- Energy of particles ejected during evaporation of carbon.- Methods for the preparation and electron microscopical observation of dispersed colloidal heavy metal particles.- Beschreibung einer Apparatur zur Herstellung dünner Schichten aus Gasentladungen bei Drucken von kleiner als 10-3 Torr und tiefen Temperaturen.- Methodik der elektronenmikroskopischen Untersuchung temperaturempfindlicher Präparate.- A new approach to the problem of high resolution shadow-casting: The simultaneous evaporation of platinum and carbon.- Ergebnisse bei der Untersuchung von Abdrucken geringer Eigenstruktur.- The rigidity of carbon replicas in relation to surface topography.- Eine Technik der Replica-Herstellung von Kohlenstoffstählen durch unmittelbare Verdampfung von Kohle und ihre Eignung für das Studium der Martensit-Zersetzung.- On a high resolution pre-shadowed carbon replica method and its direct stripping technique.- The replication of radioactive metal surfaces.- A two-step replica method in electron microscope investigation of the structure of porous aluminium oxide pellets.- Abbildung von Verteilungszuständen in kompakt-dispersen Körpern.- D. Ergebnisse der Elektronenmikroskopie in der Technologie (Kristallographie, Metallographie, Chemie).- 1. Kristallgitter-Strukturen.- Über die Genauigkeit von Gitterkonstantenmessungen mit Elektroneninterferenzen.- Studies in crystal structure using electron diffraction of single crystals.- Electron microscopic and diffraction studies of the aged AgI sol.- The diamond to graphite transformation.- Orientation de microcristaux déposés sur mica.- 2. Kristallwachstum.- Untersuchungen an sehr dünnem Blattgold.- An electron microscopical study: The structure and morphology of ultramicroscopic dendrites of alpha iron.- An electron microscopical study: Some effects of magnetic field upon single, anisotropic alpha iron crystals and the relation between their fine structure and magnetic properties.- The role of electron microscopy in the development of a new science “Crystallurgy”.- Übermikroskopische Strukturuntersuchung von zwei Legierungen für permanente Magnete.- Cinematographic study of the growth process of oxide crystals in the electron microscope.- Electron microscopic and diffraction study on the progress of reduction of tungsten trioxide.- A study of an oxide-coated cathode with the electron microscope.- 3. Kristalloberflächen.- Electron microscopic observation of alkali-halide crystals at low temperature.- Microstructure in ammonium dihydrogen phosphate crystals induced by clays during growth.- Elektronenmikroskopische Untersuchung der Spaltflächen von Indiumantimonid-Einkristallen.- Electron optical investigation and electron microscopy of the domain structure of ferroelectric single crystals.- 4. Kondensierte Schichten.- Wachstum von Alkalihalogeniden bei Bekeimung.- Nouvelle méthode d’étude par microscopie électronique de la structure superficielle des faces de clivages d’halogénures alcalins.- Nucleation of evaporated metal layers on single crystal substrates.- Elektronenoptische Untersuchung zur Kristallisation von dünnen Aufdampfschichten aus halbleitenden Verbindungen.- The structure of evaporated carbon films.- Untersuchungen über den Ursprung von spontanen Bedeckungen auf Silberaufdampfschichten.- Oberflächenabdrücke von elektrolytisch niedergeschlagenen Kupfer- und Silberschichten mit eingebauten organischen Fremdstoffen.- Elektronenoptische Untersuchungen an dünnen, elektrolytisch niedergeschlagenen Nickelschichten.- 5. Kristallbau-Fehler und Versetzungen.- A theory of Bragg diffraction phase contrast due to defects in crystals observed by transmission electron microscopy.- Comparison of dislocation arrangements and movements in a number of metals.- Dislocation interactions in stainless steel.- Recrystallization of cold rolled nickel.- Dislocation loops in quenched aluminium and gold.- A transmission microscope study of uranium.- A transmission electron microscope study of thin foils of copper.- Experimental techniques for the plastic deformation of metal foils in the electron microscope.- Versetzungsanordnungen in a-Messing.- Observations on thin metal films during controlled deformation in the electron microscope.- Deformation of oriented thin films on solid substrates.- Chauffage et déformation des échantillons minces métalliques à l’intérieur d’un microscope électronique.- The direct observation of dislocations in bismuth telluride.- 6. Umwandlungs- und Ausscheidungsvorgänge in Metallen.- Some problems in the study of precipitation and phase transformation in metals.- Precipitation of carbides in unalloyed and low alloy steels.- Étude d’alliages titane-aluminium par micrographie et microdiffraction électroniques sur coupes minces.- Electron transmission studies of thin foils of aged aluminium alloys.- An electron microscopic study of the age hardening of duralumin.- Transformation de phases des alliages Al-Cu due au chauffage à l’intérieur du microscope électronique.- Transformation des réseaux métalliques sous l’influence des éléments d’insertion: Transformation du réseau du nickel sous l’influence de l’azote.- Die Bildung des Eisen-Stickstoff-Martensits in dünnen Schichten.- Some special aspects of the bainitic structure.- The mechanism of bainite formation in low alloy steels containing up to 0.4% carbon.- Utilisation du brome comme agent de dissolution du métal, dans la préparation de répliques microfractographiques et de répliques avec extraction.- An electron microscope study of changes in a 21/4% Cr, 1% Mo super-heater tube steel during tempering and creep.- Studies on the occurrence, morphology and identity of nitride precipitates in iron and steel.- Die orientierte Zementitausscheidung im Ferrit.- Carbidphasen-Umwandlungen in Schnelldrehstahl beim Anlassen zwischen 100° und 700° C.- The precipitation of Cr7C3 in ferritic steels of varying chromium content.- Application de la microscopie électronique à l’étude de la précipitation dans les aciers inoxydables par extraction sur réplique de carbone.- Application of the selected area diffraction from carbon extraction replicas for the study of carbide reactions and the inclusions in steel.- Quelques aspects du développement de la métallographie électronique.- 7. Natürliche und künstliche technologische Fasern.- Studies of fibrous structures.- Studies of the reactivity of keratin with heavy metals.- L’examen des fibres textiles au microscope électronique— Contribution à l’étude de la structure fine des fibres de laine Mérinos.- Cross-sectional study of chemically treated cotton fibers.- Microfibrillar structure in regenerated cellulose.- Verbesserte Objektpräparationen für die elektronenmikroskopische Untersuchung von Cellulosefasern.- Relative mass thicknesses in wood cells of pine (with remarks on impregnation properties).- Statistische Auswertungen an Cellulosefibrillen in der primären Zellwand.- Super micellar structures of high polymers.- 8. Verschiedene Produkte der chemischen Technik.- Über die Hydratation von Zement und den Einfluß von Fluaten.- Elektronenmikroskopische Untersuchung von natürlichen, hydraulischen Bindstoffen.- Bestimmung der mittleren Porengröße feinporiger Stoffe im Elektronenmikroskop mit Hilfe definiert eingestellter Fresnelsäume.- The structure of colloidal barium sulphate.- Elektronenmikroskopische Untersuchung von Ni-Kieselsäure Katalysatoren.- An investigation of a micellar solution by electron microscopy.- Polydispersität kolloider Systeme.- A direct electron microscope study of thin rubber films.- Einige Besonderheiten der Elektronenbeugungs-Untersuchungen an Hochpolymerverbindungen.- 9. Staube und Rauche.- Elektronenoptische Untersuchungen von Schwebestaub in Grubengebäuden.- The electron microscope study of airborne coal and rock dust.- Étude par diffraction et microscopie électroniques de la fumée du tabac.- Electron microscopy of bidi and cigarette smoke.- 10. Spuren-Nachweis.- Die Anwendung mikrochemischer Nachweisverfahren in der Elektronenmikroskopie.- Ein Beitrag zum Nachweis kleinster Substanzmengen.- E. Feldemissionsmikroskopie*.- 1. Feldelektronen-Mikroskopie von Metalloberflächen.- Über die Feldelektronenemission des Palladiums im Vergleich zu Nickel und Platin.- Feldemission von Vanadium.- Untersuchungen an dem Chrom-Nickelstahl 18/8 im Feldelektronenmikroskop.- The investigation of phase transformation ? ? ? Zr.- Kristalloberflächen unter dem Einfluß elektrischer Felder.- Observation of metals at high temperatures by the Field Emission Microscope.- 2. Adsorptionsuntersuchungen an Feldkathoden.- The topography of the hydrogen chemisorption on metals.- Application of electron emission microscopy in chemisorption studies.- Zur Messung der Dicke von Barium-Aufdampfschichten im Feldelektronenmikroskop.- The formation of carbides on the surface of Mo and W single crystals.- 3. Feldionen-Mikroskopie.- Beobachtungen der atomaren Struktur von Metalloberflächen im Feldionenmikroskop.- Zur Analyse von Feldionenmikroskop-Aufnahmen mit atomarer Auflösung.