Untersuchung Des Schichtverzuges Am Beispiel Der Hochleistungsemulsion Kodak 103-F

ISBN-13: 9783531027982 / Niemiecki / Miękka / 1979 / 47 str.

James Campbell

Opis

In der wissenschaftlichen Photographie stellt das photographische Bild einen Informationstrager auBerordentlich hoher Speicherdichte dar. Gleichzeitig besteht eine feste geometrische Beziehung der in der photographischen Schicht materialisierten Bildpunkte. Die Sta bilitat dieser Beziehung wird wesentlich durch die Beschaffenheit des Schichttragers bestimmt: Glasplatten weisen hier im Vergleich zu Filmen eine erheblich hohere Festigkeit auf. Hochste Anforderungen an die geometrische Bildtreue werden sowohl in der Astronomie (Astrometrie und Spektroskopie) als auch in der Photogrammetrie (GroBmaBstabige Vermessungen, Aerotriangulation) gestellt. Wahrend allerdings in der Photogrammetrie aus GrUnden der Wirtschaftlichkeit und der einfacheren Handhabung meist den Filmen der Vorzug gegeben wird, verwendet man in der Astronomie noch durch weg Glasplatten als Schichttrager. Eine erhebliche Bedeutung erlang ten photographische Platten ebenfalls bei der ballistischen Flug bahnvermessung und der daraus entwickelten photographischen Methode der Satellitengeodasie (SCHMID 1972). Bekanntlich hangt die Lagegenauigkeit der auf der Platte abgebilde ten Objektpunkte nicht nur von der Genauigkeit der Ausmessung am Komparator, sondern auch von zahlreichen anderen Faktoren im Abbil dungs- und EntwicklungsprozeB abo Die Erfassung derartiger Fehler einflusse durch geeignete Modelle in der Auswertung hat bislang immer nur Teilerfolge erbracht, wie die Unterschiede zwischen der MeBgenauigkeit am Komparator und der Genauigkeit der Endresultate deutlich machen (BROKOF 1975, SCHMID 1972).

Spis treści

1. Einführung.- 2. Die Beobachtungen.- 2.1 Das Plattenmaterial.- 2.2 Die Aufnahmen.- 2.3 Ausmessung am Komparator.- 2.3.1 Das Meßverfahren.- 2.3.2 Die Messungen am MANN-Komparator.- 2.3.3 Die Messungen am KOMESS-Komparator.- 2.3.4 Messungen an anderen Komparatoren.- 2.3.5 Vollautomatische Komparatoren.- 3. Das Auswerteverfahren.- 3.1 Auswertung der Komparatormessungen.- 3.2 Die Plattenreduktion.- 3.3 Statistische Restfehleranalyse.- 3.3.1 Längs- und Querkorrelation.- 4. Ergebnisse und Folgerungen.- 4.1 Beurteilung der Meßgenauigkeit.- 4.2 Schichtverzug aus Kontaktkopien.- 4.3 Schichtverzug aus den Restfehlern der Plattenreduktion.- 4.4 Schlußfolgerungen.- 5. Literatur.- 6. Anhang.