• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Unconventional Electron Microscopy for Molecular Structure Determination » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2948695]
• Literatura piękna
 [1824038]

  więcej...
• Turystyka
 [70868]
• Informatyka
 [151073]
• Komiksy
 [35227]
• Encyklopedie
 [23181]
• Dziecięca
 [621575]
• Hobby
 [138961]
• AudioBooki
 [1642]
• Literatura faktu
 [228651]
• Muzyka CD
 [371]
• Słowniki
 [2933]
• Inne
 [445341]
• Kalendarze
 [1243]
• Podręczniki
 [164416]
• Poradniki
 [479493]
• Religia
 [510449]
• Czasopisma
 [502]
• Sport
 [61384]
• Sztuka
 [243086]
• CD, DVD, Video
 [3417]
• Technologie
 [219673]
• Zdrowie
 [100865]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2168]
• Puzzle, gry
 [3372]
• Literatura w języku ukraińskim
 [260]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7838]
Kategorie szczegółowe BISAC

Unconventional Electron Microscopy for Molecular Structure Determination

ISBN-13: 9783528081171 / Niemiecki / Miękka / 1979 / 226 str.

W. Hoppe; R. Mason;W. Hoppe
Unconventional Electron Microscopy for Molecular Structure Determination W. Hoppe R. Mason W. Hoppe 9783528081171 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Unconventional Electron Microscopy for Molecular Structure Determination

ISBN-13: 9783528081171 / Niemiecki / Miękka / 1979 / 226 str.

W. Hoppe; R. Mason;W. Hoppe
cena 206,40
(netto: 196,57 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 198,14
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych.

Darmowa dostawa!

Generally it is not sufficiently appreciated that electron microscopy is in fact a diffraction method. In essential aspects electron microscopes are more closely related to X-ray diffracto. meters than to light microscopes. In electron microscopes monochromatized radiation and coherent illumination (never used in light microscopy) correspond in X-ray diffractometers to the primary beam with a small divergence. Imaging ina general sense can take place in interference experiments between a primary beam and a scattered beam, or between diffe rent deflected scattered beams. This leads to the realization of an old dream in diffracto metry, namely to a general experimental solution of the "phase problem." The most im pressive analogy, however, concerns the potential of the electron microscope as a tool for structure determination (where the radiation wavelenght is smaller than the atomic distan ces). It was therefore considered timely to treat this topic in this series. It was a fortunate cioncidence that in 1976 a Workshop on "Unconventional Electron Microscope Methods for the Investigation of Molecular Structures" (sponsored by the European Molecular Biology Organisation, the Deutsche Forschungsgemeinschaft and the Max-Planck-Gesell schaft) took place, and that most speakers presenting introductory lectures agreed to publish their contributions in an expanded version in this volume. This volume is thus not a symposium report in the usual sense since it contains the majority of these introductory lectures only.

Kategorie:
Nauka
Kategorie BISAC:
Science > Chemia - Fizyczna
Non-Classifiable > Non-Classifiable
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Advances in Structure Research by Diffraction Methods
Język:
Niemiecki
ISBN-13:
9783528081171
Rok wydania:
1979
Wydanie:
Softcover Repri
Numer serii:
000043127
Ilość stron:
226
Waga:
0.33 kg
Wymiary:
23.4 x 15.6 x 1.2
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia
Wydanie ilustrowane

Instrumentation: Progress and Problems.- Progress in Scanning Transmission Electron Microscopy at the University of Chicago.- The Physics of Specimen Preparation.- Radiation Damage: Experimental Work.- Radiation Damage: The Theoretical Background.- The Electron Microscope, a Diffractometer to Measure Scattering Amplitudes and Phases.- Three-Dimensional Reconstruction of Aperiodic Objects in Electron Microscopy.- Three-Dimensional Low Dose Reconstruction of Periodical Aggregates.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2026 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia