• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Ultimate Limits of Fabrication and Measurement » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949965]
• Literatura piękna
 [1857847]

  więcej...
• Turystyka
 [70818]
• Informatyka
 [151303]
• Komiksy
 [35733]
• Encyklopedie
 [23180]
• Dziecięca
 [617748]
• Hobby
 [139972]
• AudioBooki
 [1650]
• Literatura faktu
 [228361]
• Muzyka CD
 [398]
• Słowniki
 [2862]
• Inne
 [444732]
• Kalendarze
 [1620]
• Podręczniki
 [167233]
• Poradniki
 [482388]
• Religia
 [509867]
• Czasopisma
 [533]
• Sport
 [61361]
• Sztuka
 [243125]
• CD, DVD, Video
 [3451]
• Technologie
 [219309]
• Zdrowie
 [101347]
• Książkowe Klimaty
 [123]
• Zabawki
 [2362]
• Puzzle, gry
 [3791]
• Literatura w języku ukraińskim
 [253]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7933]
Kategorie szczegółowe BISAC

Ultimate Limits of Fabrication and Measurement

ISBN-13: 9780792335047 / Angielski / Twarda / 1995 / 254 str.

M. E. Welland; J. K. Gimzewski; M. E. Welland
Ultimate Limits of Fabrication and Measurement M. E. Welland J. K. Gimzewski M. E. Welland 9780792335047 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Ultimate Limits of Fabrication and Measurement

ISBN-13: 9780792335047 / Angielski / Twarda / 1995 / 254 str.

M. E. Welland; J. K. Gimzewski; M. E. Welland
cena 403,47
(netto: 384,26 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 385,52
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

An extensive body of research is involved in pushing miniaturisation to its physical limit, encompassing the miniaturisation of electronic devices, the manipulation of single atoms by scanning tunnelling microscopy, bio-engineering, the chemical synthesis of complex molecules, microsensor technology, and information storage and retrieval. In parallel to these practical aspects of miniaturisation there is also the necessity to understand the physics of small structures.
Ultimate Limits of Fabrication and Measurement brings together a number of leading articles from a variety of fields with the common aim of ultimate miniaturisation and measurement.

Kategorie:
Nauka, Fizyka
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electrical
Science > Physics - Condensed Matter
Science > Chemia - Organiczna
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Medical Science Symposia Series
Język:
Angielski
ISBN-13:
9780792335047
Rok wydania:
1995
Wydanie:
1995
Numer serii:
000052776
Ilość stron:
254
Waga:
1.22 kg
Wymiary:
24.4 x 17.0
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia
Wydanie ilustrowane

Preface. Towards Molecular and Supramolecular Devices; J. A. Preece, J. F. Stoddart. Nanoscale Fabrication; W. M. Tolles. Microminiaturization in Laser Surgery and in vivo Intradiscal Pressure Measurements in Intervertebral Discs; H. S. Ranu. Self Replicating Systems and Low Cost Manufacturing; R. C. Merkle. The Use of Actuation Principles for Micro Robots; U. Rembold, S. Fatikow, Th. Dörsam, B. Magnussen. Biophysical Approach to Nanometre Engineering's Limits; E. Wallich. IDEAS - Intelligent Design Environment for Algorithms and Systems; T. Beth, J. Müller-Quade, A. Nückel. Electron-Nucleus Interaction in a Finite Atomic Line Modulated by a Focused Electric Field; C. Joachim, J. K. Heully, M. Devel, C. Girard. Electromagnetic Radiation in Nanostructures; J. B. Pendry. Using Atom Optics to Fabricate Nanostructures; R. J. Celotta, J. J. McClelland, R. E. Scholten, R. Gupta. Limits to Squeezing of Quantum Fluctuations; A. Orlowski. Micromechanical Calorimeter with pico-Joule Sensitivity; E. Meyer, J. K. Gimzewski, Ch. Gerber, R. R. Schlittler. The Point-Contact Thermometer and its Application in the Study of Hydrodynamic Electron Flow; L. W. Molenkamp, M. J. M. de Jong. Noise in Scanning Tunnelling Microscopy; B. Koslowski, C. Baur, K. Dransfield. A Nanosensor for Admittance Spectroscopy; L. Montelius, J. O. Tegenfeldt, T. G. I. Ling. Nanodeformation - Solid or Liquid? J. B. Pethica. Theory of Conduction through Quantum Necks; J. A. Torres, J. J. Sáenz. A Scanning Force and Friction Microscope; Ph. Niedermann, J. Burger, M. Binggeli, R. Christoph, H. E. Hintermann, O. Marti. Electrical Properties of Nanometer-Sized Metal-Semiconductor Point Contacts; Y. Hasegawa, I.-W. Lyo,Ph. Avouris. Study of Contact in the Fabrication of Gold Nanostructures by Scanning Tunnelling Microscopy; A. M. Baró, J. Gómez-Herrero, J. I. Pascual, J. Méndez, N. García. Fabrication of Nanoscale Gold Contacts with the STM: Possible Applications; C. van Haesendonck, L. Stockman, G. Neuttiens, Y. Bruynseraede. Suppression of Electron Tunnelling through Liquid Crystal Molecules due to Infrared Irradiation; H. Nejoh, V. A. Tkachenko, M. Tsukada, M. Aono: Influence of Thickness Fluctuations on Exchange Coupling in Fe/Cr/Fe Structures; J. A. Stroscio, D. T. Pierce, J. Unguris, R. J. Celotta. 1→3 Dimensional Structures on a Uni-Directional Substrate; P. W. Murray, F. M. Leibsle, C. A. Muryn, H. J. Fischer, C. F. J. Flipse, G. Thornton, J. K. Gimzewski, R. R. Schlittler. S-Layers as Molecular Patterning Structures; D. Pum, M. Sara, U. B. Sleytr. Formation of Sub-Micrometer Structures in Soft Functionalized Langmuir&endash;Blodgett Films by Atomic Force Microscopy; N. B. Larsen, T. Bjørnholm, J. Garnaes, J. Larsen, K. Schaumberg. Individual Molecules on GaAs(001)-(2×4) and Si(001)-(2×1): Images, Statistics, and Modelling; C. M. Goringe, A. R. Avery, A. J. Mayne, M. O. Schweitzer, W. Widdra, A. J. Fischer, T. S. Jones, G. A. D. Briggs, W. H. Weinberg, C. W. Smith. Extended Abstracts of Invited Papers: Molecular Manufacturing; K. E. Drexler. Self-Assembly: Whither and Thither Molecular Machines; J. A. Preece, J. F. Stoddart. Nanostructured Sensors for Molecular Recognition; W. Göpel. Micromechanisms; H. Guckel. Limits to Mechanical Positioning and Displacement; E. C. Teague. Is Quantum Mechanics Useful? R. L



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia