• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Thin Film Growth Techniques for Low-Dimensional Structures » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2952079]
• Literatura piękna
 [1850969]

  więcej...
• Turystyka
 [71058]
• Informatyka
 [151066]
• Komiksy
 [35579]
• Encyklopedie
 [23181]
• Dziecięca
 [620496]
• Hobby
 [139036]
• AudioBooki
 [1646]
• Literatura faktu
 [228729]
• Muzyka CD
 [379]
• Słowniki
 [2932]
• Inne
 [445708]
• Kalendarze
 [1409]
• Podręczniki
 [164793]
• Poradniki
 [480107]
• Religia
 [510956]
• Czasopisma
 [511]
• Sport
 [61267]
• Sztuka
 [243299]
• CD, DVD, Video
 [3411]
• Technologie
 [219640]
• Zdrowie
 [100984]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2281]
• Puzzle, gry
 [3363]
• Literatura w języku ukraińskim
 [258]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8020]
Kategorie szczegółowe BISAC

Thin Film Growth Techniques for Low-Dimensional Structures

ISBN-13: 9781468491470 / Angielski / Miękka / 2012 / 552 str.

R. F. C. Farrow; S. S. P. Parkin; P. J. Dobson
Thin Film Growth Techniques for Low-Dimensional Structures R. F. C. Farrow S. S. P. Parkin P. J. Dobson 9781468491470 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Thin Film Growth Techniques for Low-Dimensional Structures

ISBN-13: 9781468491470 / Angielski / Miękka / 2012 / 552 str.

R. F. C. Farrow; S. S. P. Parkin; P. J. Dobson
cena 201,24
(netto: 191,66 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 192,74
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Dostawa w 2026 r.

Darmowa dostawa!

This work represents the account of a NATO Advanced Research Workshop on "Thin Film Growth Techniques for Low Dimensional Structures," held at the University of Sussex, Brighton, England from 15-19 Sept. 1986. The objective of the workshop was to review the problems of the growth and characterisation of thin semiconductor and metal layers. Recent advances in deposition techniques have made it possible to design new material which is based on ultra-thin layers and this is now posing challenges for scientists, technologists and engineers in the assessment and utilisation of such new material. Molecular beam epitaxy (MBE) has become well established as a method for growing thin single crystal layers of semiconductors. Until recently, MBE was confined to the growth of III-V compounds and alloys, but now it is being used for group IV semiconductors and II-VI compounds. Examples of such work are given in this volume. MBE has one major advantage over other crystal growth techniques in that the structure of the growing layer can be continuously monitored using reflection high energy electron diffraction (RHEED). This technique has offered a rare bonus in that the time dependent intensity variations of RHEED can be used to determine growth rates and alloy composition rather precisely. Indeed, a great deal of new information about the kinetics of crystal growth from the vapour phase is beginning to emerge.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Science > Prąd
Technology & Engineering > Electronics - Circuits - General
Science > Fizyka
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
NATO Science Series B: (Closed)
Język:
Angielski
ISBN-13:
9781468491470
Rok wydania:
2012
Wydanie:
Softcover Repri
Numer serii:
000449121
Ilość stron:
552
Waga:
1.37 kg
Wymiary:
27.9 x 21.0
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Wydanie ilustrowane

Growth of Low-Dimensional Structures in Semiconductors.- Effect of Barrier Configurations and Interface Quality on structural and Optical Properties of MBE-Grown AlxGa1-xAs/GaAs, AlxGa1-xSb/GaSb and AlxIn1-xAs/GaxIn1-xAs Superlattices.- Dynamic RHEED Techniques and Interface Quality in MBE-Grown GaAs/(Al,Ga)As Structures.- Molecular Beam Epitaxial Growth Kinetics, Mechanism(s) and Interface Formation: Computer Simulations and Experiments.- Diffraction Studies of Epitaxy: Elastic, Inelastic and Dynamic Contributions to RHEED.- Some Aspects of RHEED Theory.- Superlattices and Superstructures Grown by MOCVD.- Growth of Indium Phosphide/Indium Gallium Arsenide Structures by MOCVD Using an Atmospheric Pressure Reactor.- MOCVD Growth of Narrow Gap Low Dimensional Structures.- The Preparation of Modulated Semiconductor Structures by Liquid Phase Epitaxy.- Growth and Structure of Compositionally Modulated Amorphous Semiconductor Superlattices and Heterojunctions.- Atomic Layer Epitaxy of Compound Semiconductors.- Reflection High-Energy Electron Diffraction Intensity Oscillations — An Effective Tool of Si and GexSi1-x Molecular Beam Epitaxy.- RHEED Intensity Oscillations and the Epitaxial Growth of Quasi-2D Magnetic Semiconductors.- Growth of Low-Dimensional Metallic Structures.- Magnetic Interface Preparation and Analysis.- Increased Magnetic Moments in Transition Elements Through Epitaxy.- Growth and Characterization of Magnetic Transition Metal Overlayers On GaAs Substrates.- Metal Semiconductor Interfaces: The Role of Structure and Chemistry.- Synthesis of Rare Earth Films and Superlattices.- Ferromagnetic Metallic Multilayers: From Elementary Sandwiches to Superlattices.- The Characterization of Modulated Metallic Structures by X-Ray Diffraction.- Spin-Polarized Neutron Reflection from Metastable Magnetic Films.- Characterization of Low-Dimensional Structures.- Probing Semiconductor MQW Structures by X-Ray Diffraction.- Characterization of Superlattices by X-Ray Diffraction.- High Resolution Electron Microscopy and Convergent Beam Electron Diffraction of Semiconductor Quantum Well Structures.- The TEM Characterization of Low-Dimensional Structures in Epitaxial Semiconductor Thin Films.- Magneto-Optic Kerr Effect and Lightscattering from Spinwaves: Probes of Layered Magnetic Structures.- Magnetism, at Surfaces and Spin Polarized Electron Spectroscopy.- Epitaxial Growths and Surface Science Techniques Applied to the Case of Ni Overlayers on Single Crystal Fe (001).

Farrow, R. F. C. fm.author_biographical_note1... więcej >


Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia