The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition » książka
topmenu
The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition
ISBN-13: 9781494743581 / Angielski / Miękka / 2014 / 134 str.
The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition
ISBN-13: 9781494743581 / Angielski / Miękka / 2014 / 134 str.
cena 73,33 zł
(netto: 69,84 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 68,58 zł
(netto: 69,84 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 68,58 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 13-18 dni roboczych.
ok. 13-18 dni roboczych.
Darmowa dostawa!
This Special Publication summarizes the certification procedure for a new generation of silicon resistivity Standard Reference Materials 2541 through 2547.
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
