The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition » książka
topmenu
The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition
ISBN-13: 9781494743581 / Angielski / Miękka / 2014 / 134 str.
The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition
ISBN-13: 9781494743581 / Angielski / Miękka / 2014 / 134 str.
cena 64,52 zł
(netto: 61,45 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 64,17 zł
(netto: 61,45 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 64,17 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 16-18 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami
ok. 16-18 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami
Darmowa dostawa!
This Special Publication summarizes the certification procedure for a new generation of silicon resistivity Standard Reference Materials 2541 through 2547.
Zawartość książki może nie spełniać oczekiwań – reklamacje nie obejmują treści, która mogła nie być redakcyjnie ani merytorycznie opracowana.
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
