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Test Und Testbarkeit Digitaler Schaltungen » książka

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Kategorie szczegółowe BISAC

Test Und Testbarkeit Digitaler Schaltungen

ISBN-13: 9783519022633 / Niemiecki / Miękka / 1988 / 229 str.

Hans Wojtkowiak; Hans Wojtkowiak
Test Und Testbarkeit Digitaler Schaltungen Wojtkowiak, Hans 9783519022633 Vieweg+teubner Verlag - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Test Und Testbarkeit Digitaler Schaltungen

ISBN-13: 9783519022633 / Niemiecki / Miękka / 1988 / 229 str.

Hans Wojtkowiak; Hans Wojtkowiak
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Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt gleichermassen fur diskret aufgebaute Logik wie fur integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlusse bei grosseren integrierten Schaltungen fast zwangslaufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berucksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test haufig nicht oder nur mit grosseren Schwierigkeiten durchzufuhren ist. Das liegt an der "Zuganglichkeit" integrierter Schal tungen, die durch die Anzahl externer Anschlusse beschrankt ist. Aus diesen und anderen Grunden ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Uberlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange ordnet, d.h. dass die logische Ebene den Ausgangspunkt fur die Testvorbereitung und die Testdurchfuhrung darstellt. Es gibt daruber hinaus heute auch Ansatze, die von hierar chisch hoheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das fur die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch fur den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexitat der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, dass man hierarchische Methoden fur deren Prufung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prufen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung."

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electronics - Circuits - General
Wydawca:
Vieweg+teubner Verlag
Seria wydawnicza:
Leitfeaden Und Monographien Der Informatik
Język:
Niemiecki
ISBN-13:
9783519022633
Rok wydania:
1988
Wydanie:
1988
Numer serii:
000471036
Ilość stron:
229
Waga:
0.37 kg
Wymiary:
24.41 x 16.99 x 1.24
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia
Wydanie ilustrowane

1 Einleitung.- 2 Grundlagen des logischen Entwurfs.- 2.1 Zweiwertige Logik.- 2.2 Logische Schaltungen.- 2.3 BOOLEsche Algebra.- 2.4 BOOLEsche Funktionen.- 2.5 Kombinatorische und sequentielle Schaltungen.- 2.5.1 Kombinatorische Schaltungen.- 2.5.2 Sequentielle Schaltungen.- 2.6 Aufgaben.- 3 Schaltungsfehler und Testmethotik.- 3.1 Fehlerursachen.- 3.2 Fehlerarten.- 3.3 Teststrategien.- 3.3.1 Funktionstests.- 3.3.2 Algorithmische Testverfahren.- 3.3.3 Stochastische Tests.- 4 Bestimmung von Testmustern.- 4.1 Tests und Testmengen.- 4.2 BOOLEsche Differenzen.- 4.2.1 Grundlagen.- 4.2.2 Testmusterberechnung.- 4.3 Kritische Signalwege.- 4.4 Der D-Algorithmus.- 4.4.1 Die 5-wertige Logik.- 4.4.2 Beschreibung des D-Algorithmus.- 4.4.3 Die Implikationsoperation.- 4.5 Der PODEM-Algorithmus.- 4.6 Weitere Verfahren.- 4.7 Beschleunigungstechniken.- 4.7.1 Zusammenfassung von Fehlern.- 4.7.2 Kompaktierungsverfahren.- 4.8 Fehlersimulation.- 4.9 Testmuster für Schaltwerke.- 4.10 Aufgaben.- 5 Signalwahrscheinlichkeiten und Testbarkeitsmaße.- 5.1 Signalwahrscheinlichkeiten.- 5.2 Testbarkeitsmaße.- 5.2.1 Kombinatorische Testbarkeitswerte.- 5.2.2 Sequentielle Testbarkeitsmaße.- 5.2.3 Die Testbarkeitsmaße eines D-Flipflop.- 5.3 Programme zur Testbarkeitsberechnung.- 5.4 Aufgaben.- 6 Testbarkeitserhóhende Maßnahmen.- 6.1 Passive Testhilfen.- 6.1.1 Ad-hoc Techniken.- 6.1.2 Prüfbus.- 6.1.3 LSSD-Verfahren.- 6.2 Schaltungsaufteilung.- 6.2.1 Die Clusteranalyse.- 6.2.2 Partitionierung durch Clusterbildung.- 6.3 Bereitstellung der Testmuster.- 6.3.1 Testmusterspeicher.- 6.3.2 Deterministische Testmustergeneratoren.- 6.3.3 Gesteuerte Zähler als Testmustergeneratoren.- 6.3.4 Pseudozufallszahlengeneratoren.- 6.4 Testdatenauswertung.- 6.4.1 Zählverfahren.- 6.4.2 Signaturanalyse.- 6.5 Das BILBO-Register.- 6.6 Selbstteststrategien.- 6.7 Aufgaben.- 7 Praktischer Schaltungstest.- 7.1 Testprogrammaufbau.- 7.2 Auswertung im Tester.- 7.3 Testeraufbau.- 7.4 Testablauf.- 8 Lösungsvorschläge zu den Aufgaben.- 9 Literaturliste.- 10 Stichwortverzeichnis.



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