• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Surface Crystallography by Leed: Theory, Computation and Structural Results » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946912]
• Literatura piękna
 [1852311]

  więcej...
• Turystyka
 [71421]
• Informatyka
 [150889]
• Komiksy
 [35717]
• Encyklopedie
 [23177]
• Dziecięca
 [617324]
• Hobby
 [138808]
• AudioBooki
 [1671]
• Literatura faktu
 [228371]
• Muzyka CD
 [400]
• Słowniki
 [2841]
• Inne
 [445428]
• Kalendarze
 [1545]
• Podręczniki
 [166819]
• Poradniki
 [480180]
• Religia
 [510412]
• Czasopisma
 [525]
• Sport
 [61271]
• Sztuka
 [242929]
• CD, DVD, Video
 [3371]
• Technologie
 [219258]
• Zdrowie
 [100961]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2341]
• Puzzle, gry
 [3766]
• Literatura w języku ukraińskim
 [255]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7810]
Kategorie szczegółowe BISAC

Surface Crystallography by Leed: Theory, Computation and Structural Results

ISBN-13: 9783642671975 / Angielski / Miękka / 2011 / 288 str.

M. a. Van Hove; S. y. Tong
Surface Crystallography by Leed: Theory, Computation and Structural Results Hove, M. a. Van 9783642671975 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Surface Crystallography by Leed: Theory, Computation and Structural Results

ISBN-13: 9783642671975 / Angielski / Miękka / 2011 / 288 str.

M. a. Van Hove; S. y. Tong
cena 201,24
(netto: 191,66 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 192,74
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

Surface science has experienced an impressive growth in the last two decades. The attention has focussed mainly on single-crystal surfaces with, on the atomic scale, relatively simple and well-defined structures (for example, clean surfaces and such surfaces with limited amounts of additional foreign atoms and molecules). One of the most fundamental types of information needed about solid surfaces concerns the relative atomic positions. The geometrical arrangement of surface atoms influences most physical and chemical properties of surfaces, the list of which is long and includes a number of important technological applications: electronic surface states, contact potentials, work functions, oxidation, heterogeneous catalysis, friction, adhesion, crys tal growth etc. Surface crystallography - the determination of relative atomic positions at surfaces - has found a successful tool in Low-Energy Electron Diffraction (LEED): this technique has now determined the atomic positions for nearly a hundred surfaces, whether in the clean state or with additional foreign atoms or molecules. The main aim of this book is to publish a set of computer pro grams that has been specifically designed for and extensively used in surface crystallography by LEED. These programs are based on the dynamical (i.e."

Kategorie:
Nauka, Fizyka
Kategorie BISAC:
Science > Physics - Crystallography
Technology & Engineering > Materials Science - General
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Springer Series in Chemical Physics
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783642671975
Rok wydania:
2011
Wydanie:
Softcover Repri
Numer serii:
000120746
Ilość stron:
288
Waga:
0.46 kg
Wymiary:
23.5 x 15.5
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia

1. Introduction.- 1.1 LEED as a Tool for Surface Studies.- 1.2 Purpose of the Computational Programs.- 1.3 Physical Processes Included in the Programs.- 1.4 Capabilities of the Programs.- 1.5 Size, Speed and Limitations of the Programs.- 1.6 Relation to Other LEED Programs.- 1.7 Some Computational Considerations.- 2. The Physics of LEED.- 2.1 A Simple Description of the LEED Process: Clean Crystals and Bragg Reflections in One Dimension.- 2.2 Peak Width and Electron Penetration Depth.- 2.3 Three-Dimensional Effects.- 2.4 Overlayer Effects.- 2.5 Elements of a LEED Theory.- 3. Basic Aspects of the Programs.- 3.1 Units and Geometrical Conventions.- 3.2 Layers, Subplanes and Plane Waves.- 3.3 Superlattices.- 3.4 Atomic Scattering and the Calculation of Phase Shifts.- 3.5 Thermal Vibrations.- 3.6 Ordering of (?,m) Pairs.- 4. Symmetry and Its Use.- 4.1 Symmetry and Registries.- 4.2 Symmetry Among Beams.- 4.3 Some Formulas.- 4.4 Summary.- 5. Calculation of Diffraction Matrices for Single Bravais-Lattice Layers.- 5.1 Layer Diffraction Matrices.- 5.2 Subroutine MSMF.- 5.3 The Intralayer Multiple-Scattering Matrix X.- 5.4 Scattering Amplitudes and Temperature Effects.- 6. The Combined Space Method for Composite Layers: by Matrix Inversion.- 6.1 The Formalism.- 6.2 Subroutine MTINV.- 7. The Combined Space Method for Composite Layers: by Reverse Scattering Perturbation.- 7.1 The Formalism of Reverse Scattering Perturbation (RSP) Theory.- 7.2 Combining RSP and Matrix Inversion.- 7.3 Subroutine MPERTI.- 8. Stacking Layers by Layer Doubling.- 8.1 The Formalism.- 8.2 Bulk Treatment: Subroutine SUBREF.- 8.3 Surface Treatment: Subroutines ADREF1, DBLG, DBG.- 9. Stacking Layers by Renormalized Forward Scattering (RFS) Perturbation.- 9.1 The Formalism.- 9.2 Subroutines RFS03, RFS02 and Others.- 10. Assembling a Program: the Main Program and the Input.- 10.1 Preparing a Calculation.- 10.2 The Main Program.- 10.3 Explanation of Output.- 10.3.1 Print Output.- 10.3.2 Punch Output.- 10.4 Main Program for Clean fcc (111) and hcp (0001) Faces, Including Possible Top-Layer Registry Shifts, Using RFS.- 10.5 Main Program for a Small-Atom p(2×1) Overlayer on a fcc (111) Substrate, Using RSP and RFS.- 10.6 Main Program for a Clean fcc or bcc (100) Surface, Using RFS.- 10.7 Main Program for a p(2×2) Overlayer on an fcc or bcc (100) Substrate, Using Layer Doubling.- 10.8 Main Program for a c(2×2) Overlayer on an fcc or bcc (100) Substrate, with Rumpling of the Topmost Substrate Layer, Using Matrix Inversion and RFS.- 10.9 Main Program for an Upright Diatomic Molecule on an fcc or bcc (100) Substrate, Using Layer Doubling.- 11. Subroutine Listings.- 12. Structural Results of LEED Crystallography.- 12.1 Non-Metals.- 12.2 Clean Metals.- 12.3 Adsorption on Metals.- 12.4 Bibliography.- Appendix A. Symmetry Among Plane Waves.- Appendix B. Lattice Sums Over Sublattices.- Appendix C. A Line-Printer Plotting Program.- References.

Dr. Michel A. Van Hove is a Staff Scientist in the Materials Sciences Division and the Advanced Light Source of the Lawrence Berkeley National Laboratory in Berkeley, California, USA, and an Adjunct Professor in the Physics Department of the University of California in Davis, California, USA. His research interests focus on the structural, chemical, electronic and magnetic properties of surfaces, interfaces, and related nano-structures. The emphasis is on modelling experimental techniques toextract such information from actual materials.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia