Quantitative Bestimmung Der Sekundärionenausbeuten Sauerstoffbedeckter Metalle

ISBN-13: 9783531027845 / Niemiecki / Miękka / 1978 / 45 str.

Alfred Benninghoven

Opis

Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest korperoberflache werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine moglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkorperoberflache ist Voraussetzung fur das Verstandnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dunnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflachenanalyse, das eine um fassende Information uber diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfullen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflosungsvermogen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberflache durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflachenanalyse kann alle diese Forderunger erfullen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2,3) oder der Ionenruckstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundarionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit fur viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflachenschichten und Oberflachenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die fur die einzelnen Elemente und Verbindungen um Grossenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der "Matrix," abhangt

Spis treści

1. Einleitung.- 2. Grundlagen der Sekundärionenemission.- 3. Die statische Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie.- 4. Apparatur.- 5. Die chemische Sekundärionenemission von Anionenkomplexen.- 6. Abtragung monomolekularer und mehrere Monolagen dicker Schichten durch Ionenbeschuß.- 7. Die Oxidation von Metallen im Monolagenbereich.- 8. Das Wertigkeitsmodell.- 9. Anwendung des Wertigkeitsmodells auf Sauerstoffexposition und Ionenbeschußdesorption (“dynamisches Wertigkeitsmodell”).- 10. Die Grenzen der Anwendbarkeit des Wertigkeitsmodells.- Literatur.- Tabellen.- Abbildungen.