Wyszukiwanie zaawansowane
Kategorie
Kategorie BISAC
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Opinie
Pomoc
Załóż konto
Zaloguj się
Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy Investigation of Three-dimensional GaN Structures » książka
zaloguj się
|
załóż konto
koszyk
konto
szukaj
topmenu
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Kategorie główne
•
Nauka
[2396997]
•
Literatura piękna
[1583842]
więcej...
•
Turystyka
[61702]
•
Informatyka
[130073]
•
Komiksy
[28532]
•
Encyklopedie
[21645]
•
Dziecięca
[509406]
•
Hobby
[104084]
•
AudioBooki
[2245]
•
Literatura faktu
[195237]
•
Muzyka CD
[805]
•
Słowniki
[2857]
•
Inne
[398469]
•
Kalendarze
[1034]
•
Podręczniki
[150144]
•
Poradniki
[407613]
•
Religia
[443039]
•
Czasopisma
[468]
•
Sport
[54896]
•
Sztuka
[211222]
•
CD, DVD, Video
[3877]
•
Technologie
[178705]
•
Zdrowie
[88967]
•
Książkowe Klimaty
[124]
•
Zabawki
[3807]
•
Puzzle, gry
[3337]
•
Literatura w języku ukraińskim
[276]
•
Art. papiernicze i szkolne
[11711]
Kategorie szczegółowe BISAC
Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy Investigation of Three-dimensional GaN Structures
ISBN-13
: 9783844086744 / Angielski / Miękka / 2022 / 170 str.
Manal Ali Deeb
Widoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.
Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy Investigation of Three-dimensional GaN Structures
ISBN-13
: 9783844086744 / Angielski / Miękka / 2022 / 170 str.
Manal Ali Deeb
cena
245,68
zł
(netto: 233,98 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 241,36 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 30 dni roboczych.
Darmowa dostawa!
do przechowalni
Parametry
Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering
>
Electrical
Wydawca:
Shaker Verlag GmbH, Germany
Seria wydawnicza:
Berichte aus der Halbleitertechnik
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783844086744
Rok wydania:
2022
Dostępne języki:
Angielski
Ilość stron:
170
Wymiary:
21.021.0 x 14.8
Oprawa:
Miękka
Udostępnij
Czytaj nas na: