New Approaches to Reliability Qualification of Semiconductor Components under Varying and Progressive Stresses » książka
topmenu
New Approaches to Reliability Qualification of Semiconductor Components under Varying and Progressive Stresses
ISBN-13: 9783736975200 / Angielski / Miękka / 2021 / 166 str.
New Approaches to Reliability Qualification of Semiconductor Components under Varying and Progressive Stresses
ISBN-13: 9783736975200 / Angielski / Miękka / 2021 / 166 str.
cena 279,69 zł
(netto: 266,37 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 262,17 zł
(netto: 266,37 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 262,17 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 13-18 dni roboczych.
ok. 13-18 dni roboczych.
Darmowa dostawa!
Kategorie:
Kategorie BISAC:
Wydawca:
Cuvillier
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783736975200
Rok wydania:
2021
Dostępne języki:
Angielski
Ilość stron:
166
Waga:
0.20 kg
Wymiary:
21.021.0 x 14.821.0 x 14.8 x 0
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
