Minimierung der dynamischen Kraft durch strukturelle Veränderungen &Vt Techniken

ISBN-13: 9786202605922 / Niemiecki / Miękka / 204 str.

Lakshmaiah Dayadi; Subramanyam M. V.; Satya Prasad Kodati

Opis

In den letzten zehn Jahren stand das energiesparende, energieeffiziente Very Large Scale Integration Design im Mittelpunkt der aktiven Forschung und Entwicklung. Die schnelle Skalierung der Technologie, die wachsende Integrationskapazität und die Verlustleistung sind die Faktoren, die dazu beitragen, dass die Komplexität des modernen VLSI-Designs zunimmt. Spannungsskalierung ist eine der effizientesten Methoden zur Reduzierung von Leistung und Energie in VLSI-Schaltkreisen. Aufgrund der reduzierten Schwellenspannung wird die Schaltgeschwindigkeit schneller, der aktive Leckstrom wird erhöht. Es ist eine Technik zur dynamischen Verwaltung des aktiven Leckstroms erforderlich, die die Energiedissipation in VLSI-Schaltungen bei verschiedenen Schaltungen mit unterschiedlichem Komplexitätsgrad reduziert. Wenn die Technologie in den tiefen Submikrometerbereich skaliert, steigt die Subschwellen-Leckleistung exponentiell mit der Reduzierung der Schwellenspannung. Daher werden effektive Techniken zur Leckage- und dynamischen Leistungsminimierung notwendig.

O autorze

Dayadi, Lakshmaiah
Dr. Dayadi Lakshmaiah, Professor für Elektronik und Kommunikationstechnik, ist derzeit am Sri Indu Institute of Engineering and Technology in Hyderabad, Indien, und erhielt seinen Doktorgrad am JNTUK in Kakinada. Er studierte M.Tech JNTU anantapur (Campus) und erhielt seinen B.Tech vom National Institute of Technology Warangal (RECW).