Mikro- Und Nanoskopie Der Werkstoffe

ISBN-13: 9783540899457 / Niemiecki / Miękka / 2009 / 258 str.

Erhard Hornbogen; Birgit Skrotzki

Opis

Das Buch gibt eine Einfuhrung in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen, vor allem von Metallen, aber auch von Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die mikroskopischen Methoden werden systematisch und vergleichend erortert. Da Strukturen im Nanometerbereich in der Materialforschung ganz besondere Beachtung gewonnen haben, stehen die Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie im Mittelpunkt des Buches. Zu ihnen zahlen auch die Beugung zur Analyse der Struktur der Phasen sowie die Spektroskopie fur die quantitative Bestimmung der Atomarten. Daruber hinaus wurden insbesondere die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie grundlich behandelt. Das Buch eignet sich fur Studierende der Werkstoffwissenschaften ebenso wie fur Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet der Mikroskopie von metallischen, keramischen und polymeren Werkstoffen suchen. Jedes Kapitel enthalt zahlreiche Abbildungen und weiterfuhrende Literaturhinweise. Die 3. Auflage wurde grundlich neu bearbeitet und aktualisiert.

Spis treści

1 Systematik und Methoden zur Kennzeichnung des Aufbaus der Werkstoffe .................................................................................................. 1.1 Einleitung.......................................................................................... 1.2 Systematik des Gefüges................................................................... 1.3 Verschiedene optische Verfahren zur Analyse des Aufbaus der Werkstoffe ............................................................................................ 1.3.1 Lichtmikroskopie..................................................................... 1.3.2 Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ......................... 1.3.3 Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM) .............. 1.3.4 Feldionenmikroskopie (FIM) und Atomsondenspektroskopie 1.3.5 Emissionsmikroskopie............................................................. 1.3.6 Elektronenstrahlmikrosonde (ESMA) ..................................... 1.3.7 Rasterelektronenmikroskop (REM)......................................... 1.3.8 Focused Ion Beam (FIB) ......................................................... 1.3.9 Rastersondenmikroskopie (SPM) ............................................ 1.3.10 Computertomographie (CT) .................................................. 1.4 Nanostrukturen ........................................................................... 1.5 Kombination der Untersuchungsverfahren................................... Literatur ............................................................................................ 2 Herstellung von Proben................................................................ 2.1 Einleitung..................................................................................... 2.2Vorzerkleinern................................................................................ 2.3 Vordünnen ...................................................................................... 2.4 Dünnpolieren .................................................................................. 2.5 Ionendünnen ................................................................................... 2.6 Zielpräparation................................................................................ 2.7 Focused Ion Beam.......................................................................... 2.8 Einführung der Probe in den Probenhalter ..................................... Literatur ............................................................................................... 3 Elektronenbeugung.......................................................................... X Inhalt 3.1 Einleitung........................................................................................ 3.2 Benennung von Kristallstrukturen.................................................... 3.3 Auswertung der Beugungsbilder ..................................................... 3.4 Simulation von Beugungsbildern ..................................................... 3.5 Intensität der Reflexe...................................................................... 3.6 Kikuchi-Linien................................................................................ 3.7 Weitere Information aus Beugungsbildern....................................... 3.8 Konvergente Beugung ..................................................................... 3.9 Beugung an Gläsern und Quasikristallen ........................................ Literatur ................................................................................................ 4 Durchstrahlung

O autorze

Prof. em. Dr.-Ing. Dr. h.c. Erhard Hornbogen

studierte Metallkunde an der TH-Stuttgart. Nach Forschung (US Steel, Monroeville, USA; MPI und TU Stuttgart) Professur für Metallphysik in Göttingen. 1968-1995 Professor für Werkstoffwissenschaft an der Universität Bochum. Forschungsschwerpunkte: Einfluss der Mikrostruktur auf Werkstoffeigenschaften; Bedeutung von Werkstoffen in Technik und Gesellschaft. Autor mehrerer Lehrbücher

Blurb

Das Buch gibt eine Einführung in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen, vor allem von Metallen, aber auch von Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die mikroskopischen Methoden werden systematisch und vergleichend erörtert. Da Strukturen im Nanometerbereich in der Materialforschung ganz besondere Beachtung gewonnen haben, stehen die Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie im Mittelpunkt des Buches. Zu ihnen zählen auch die Beugung zur Analyse der Struktur der Phasen sowie die Spektroskopie für die quantitative Bestimmung der Atomarten. Darüber hinaus wurden insbesondere die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie gründlich behandelt.

Das Buch eignet sich für Studierende der Werkstoffwissenschaft ebenso wie für Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet der Mikroskopie von metallischen, keramischen und polymeren Werkstoffen suchen. Jedes Kapitel enthält zahlreiche Abbildungen und weiterführende Literaturhinweise.

Die 3. Auflage wurde gründlich neu bearbeitet und aktualisiert.