Microelectronic Reliability: v. 2: Integrity, Assessment and Assurance » książka
topmenu
Microelectronic Reliability: v. 2: Integrity, Assessment and Assurance
ISBN-13: 9780890063507 / Angielski / Twarda / 1989 / 556 str.
Microelectronic Reliability: v. 2: Integrity, Assessment and Assurance
ISBN-13: 9780890063507 / Angielski / Twarda / 1989 / 556 str.
cena 745,43 zł
(netto: 709,93 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 741,35 zł
(netto: 709,93 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 741,35 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 16-18 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami
ok. 16-18 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami
Darmowa dostawa!
A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
