Metrologicheskoe obespechenie na sovremennom proizvodstve, v obrazovanii i nauchnyh organizaciyah

ISBN-13: 9783659866814 / Rosyjski / Miękka / 2016 / 120 str.

Sergej Alexeevich Sergeev

Opis

V nastoyashhee vremya izucheniju osnov metrologii, metrologicheskogo obespecheniya i izmeritel'noj tehniki udelyaetsya osoboe vnimanie pri obuchenii bakalavrov i magistrov razlichnyh tehnicheskih napravlenij podgotovki. Uchebnye discipliny, svyazannye s izucheniem metrologii, provedeniya izmerenij i izmeritel'noj tehniki vkljucheny v uchebnye plany obucheniya studentov vseh fizicheskih napravlenij universitetov. Vypuskniki vysshih uchebnyh zavedenij dolzhny obladat' segodnya znaniyami ne tol'ko metrologii i osnov izmeritel'noj tehniki, no i novejshih sredstv izmerenij (ne zabyvaya ob aktual'nom metrologicheskom obespechenii), garantirujushhimi progress v razvitii nauki i tehniki, a takzhe sovremennogo promyshlennogo proizvodstva vysokokachestvennoj produkcii. C problemoj metrologicheskogo obespecheniya svyazano dostatochno bol'shoe chislo uchebnoj literatury i nauchnyh publikacij, v tom chisle nauchnye, uchebnye i uchebno-metodicheskie raboty avtora. Cel'ju dannoj raboty yavlyaetsya izuchenie osobennostej metrologicheskogo obespecheniya v nauchnyh, obrazovatel'nyh organizaciyah i na proizvodstve.

O autorze

K.f.-m.n., docent kafedry fiziki poluprovodnikov fakul'teta nano- i biomedicinskih tehnologij Saratovskogo gosudarstvennogo universiteta imeni N.G. Chernyshevskogo. Avtor okolo 150 nauchnyh i uchebno-metodicheskih trudov. Sfera nauchnyh interesov: poluprovodnikovaya volnovaya mikrojelektronika SVCh diapazona, sintez i issledovanie svojstv nano- i mikrochastic