• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2944077]
• Literatura piękna
 [1814251]

  więcej...
• Turystyka
 [70679]
• Informatyka
 [151074]
• Komiksy
 [35590]
• Encyklopedie
 [23169]
• Dziecięca
 [611005]
• Hobby
 [136031]
• AudioBooki
 [1718]
• Literatura faktu
 [225599]
• Muzyka CD
 [379]
• Słowniki
 [2916]
• Inne
 [443741]
• Kalendarze
 [1187]
• Podręczniki
 [166463]
• Poradniki
 [469211]
• Religia
 [506887]
• Czasopisma
 [481]
• Sport
 [61343]
• Sztuka
 [242115]
• CD, DVD, Video
 [3348]
• Technologie
 [219293]
• Zdrowie
 [98602]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2385]
• Puzzle, gry
 [3504]
• Literatura w języku ukraińskim
 [260]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7151]
Kategorie szczegółowe BISAC

Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers

ISBN-13: 9781498722605 / Angielski / Twarda / 2015 / 394 str.

Marta Bagatin; Simone Gerardin
Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers Marta Bagatin Simone Gerardin 9781498722605 CRC Press - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers

ISBN-13: 9781498722605 / Angielski / Twarda / 2015 / 394 str.

Marta Bagatin; Simone Gerardin
cena 906,08
(netto: 862,93 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 831,17
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych.

Darmowa dostawa!
inne wydania

Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers delivers comprehensive coverage of the effects of ionizing radiation on state-of-the-art semiconductor devices. The book also offers valuable insight into modern radiation-hardening techniques. The text begins by providing important background information on radiation effects, their underlying mechanisms, and the use of Monte Carlo techniques to simulate radiation transport and the effects of radiation on electronics. The book then:

  • Explains the effects of radiation on digital commercial devices, including microprocessors and volatile and nonvolatile memories static random-access memories (SRAMs), dynamic random-access memories (DRAMs), and Flash memories
  • Examines issues like soft errors, total dose, and displacement damage, together with hardening-by-design solutions for digital circuits, field-programmable gate arrays (FPGAs), and mixed-analog circuits
  • Explores the effects of radiation on fiber optics and imager devices such as complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) sensors and charge-coupled devices (CCDs)
Featuring real-world examples, case studies, extensive references, and contributions from leading experts in industry and academia, Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers is suitable both for newcomers who want to become familiar with radiation effects and for radiation experts who are looking for more advanced material or to make effective use of beam time."

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electronics - Circuits - General
Technology & Engineering > Mechanical
Technology & Engineering > Biomedical
Wydawca:
CRC Press
Seria wydawnicza:
Devices, Circuits, and Systems
Język:
Angielski
ISBN-13:
9781498722605
Rok wydania:
2015
Numer serii:
000397284
Ilość stron:
394
Waga:
0.72 kg
Wymiary:
23.62 x 15.75 x 2.79
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia
Wydanie ilustrowane

"... timely and useful. The organization of this book is excellent, covering the most popular works in the field of radiation effects. The authors for these topics are famous, qualified, and professional at the relative field. All of them have devoted many years on their specific topics."
—Lili Ding, Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an, China

Introduction to the Effects of Radiation on Electronic Devices. Monte Carlo Simulation of Radiation Effects. A Complete Guide to Multiple Upsets in SRAMs Processed in Decananometric CMOS Technologies. Radiation Effects in DRAMs. Radiation Effects in Flash Memories. Microprocessor Radiation Effects. Soft-Error Hardened Latch and Flip-Flop Design. Assuring Robust Triple-Modular Redundancy Protected Circuits in SRAM-Based FPGAs. Single-Event Mitigation Techniques for Analog and Mixed-Signal Circuits. CMOS Monolithic Sensors with Hybrid Pixel-Like, Time-Invariant Front-End Electronics: TID Effects and Bulk Damage Study. Radiation Effects on CMOS Active Pixel Image Sensors. Natural Radiation Effects in CCD Devices. Radiation Effects on Optical Fibers and Fiber-Based Sensors.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2026 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia