• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Integrated Circuit Quality and Reliability » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949965]
• Literatura piękna
 [1857847]

  więcej...
• Turystyka
 [70818]
• Informatyka
 [151303]
• Komiksy
 [35733]
• Encyklopedie
 [23180]
• Dziecięca
 [617748]
• Hobby
 [139972]
• AudioBooki
 [1650]
• Literatura faktu
 [228361]
• Muzyka CD
 [398]
• Słowniki
 [2862]
• Inne
 [444732]
• Kalendarze
 [1620]
• Podręczniki
 [167233]
• Poradniki
 [482388]
• Religia
 [509867]
• Czasopisma
 [533]
• Sport
 [61361]
• Sztuka
 [243125]
• CD, DVD, Video
 [3451]
• Technologie
 [219309]
• Zdrowie
 [101347]
• Książkowe Klimaty
 [123]
• Zabawki
 [2362]
• Puzzle, gry
 [3791]
• Literatura w języku ukraińskim
 [253]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7933]
Kategorie szczegółowe BISAC

Integrated Circuit Quality and Reliability

ISBN-13: 9780824792831 / Angielski / Twarda / 1994 / 808 str.

Eugene R. Hnatek; Hnatek R. Hnatek; E. R. Hnatek
Integrated Circuit Quality and Reliability Eugene R. Hnatek Hnatek R. Hnatek E. R. Hnatek 9780824792831 CRC - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Integrated Circuit Quality and Reliability

ISBN-13: 9780824792831 / Angielski / Twarda / 1994 / 808 str.

Eugene R. Hnatek; Hnatek R. Hnatek; E. R. Hnatek
cena 902,39 zł
(netto: 859,42 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 856,36 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

Examines all important aspects of integrated circuit design, fabrication, assembly and test processes as they relate to quality and reliability. This second edition discusses in detail: the latest circuit design technology trends; the sources of error in wafer fabrication and assembly; avenues of contamination; new IC packaging methods; new in-line process monitors and test structures; and more. reliability, and industrial engineers; computer scientists; integrated circuit manufacturers; and upper-level undergraduate, graduate and continuing-education students in these disciplines.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electronics - Circuits - General
Wydawca:
CRC
Seria wydawnicza:
Electrical Engineering and Electronics
Język:
Angielski
ISBN-13:
9780824792831
Rok wydania:
1994
Wydanie:
Rev and Expande
Numer serii:
000047501
Ilość stron:
808
Waga:
1.07 kg
Wymiary:
22.9x15.2x4.2
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01

"The new edition brings the baseline IC technology and tool set up to date. . ..it covers all the material in more depth than the first edition. . .. . . .a good tutorial on IC fabrication and packaging, including quality concerns. . .. Excellent chapters on design, fabrication, packaging, and test put today's engineer in a good position to understand the impact of contamination and manufacturing errors on their IC products. "
---IEEE Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society Newsletter

Overview. Part 1 Introduction to integrated circuit manufacturing processes: front-end IC fabrication operations; back-end fabrication operations; in-line process monitors and test structures. Part 2 Impact of new technologies: circuit design trends; changing fabrication techniques; packaging technology trends; electrical testing of VLSICs and ASICs. Part 3 Contamination and manufacturing errors: contamination; human contamination (people); IC processing contamination; contamination control; computer-based sources of error in design and test circuit design; material issues. Part 4 Causes (sources) of IC failures: fabrication-related causes of defects; packaging and assembly related causes of IC failures; reliability improvement. Part 5 Introduction to screening: screening.

Hnatek, Eugene R.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia