• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946600]
• Literatura piękna
 [1856966]

  więcej...
• Turystyka
 [72221]
• Informatyka
 [151456]
• Komiksy
 [35826]
• Encyklopedie
 [23190]
• Dziecięca
 [619653]
• Hobby
 [140543]
• AudioBooki
 [1577]
• Literatura faktu
 [228355]
• Muzyka CD
 [410]
• Słowniki
 [2874]
• Inne
 [445822]
• Kalendarze
 [1744]
• Podręczniki
 [167141]
• Poradniki
 [482898]
• Religia
 [510455]
• Czasopisma
 [526]
• Sport
 [61590]
• Sztuka
 [243598]
• CD, DVD, Video
 [3423]
• Technologie
 [219201]
• Zdrowie
 [101638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2473]
• Puzzle, gry
 [3898]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8170]
Kategorie szczegółowe BISAC

Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials

ISBN-13: 9783844085174 / Angielski / Miękka / 2022 / 174 str.

Xingchen Dong
Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials Xingchen Dong 9783844085174 Shaker Verlag GmbH, Germany - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials

ISBN-13: 9783844085174 / Angielski / Miękka / 2022 / 174 str.

Xingchen Dong
cena 234,18 zł
(netto: 223,03 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 231,79 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 30 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!
Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Measurement
Wydawca:
Shaker Verlag GmbH, Germany
Seria wydawnicza:
Reports on Measurement and Sensor Systems
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783844085174
Rok wydania:
2022
Dostępne języki:
Angielski
Ilość stron:
174
Wymiary:
21.021.0 x 14.8
Oprawa:
Miękka


Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia