• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope : Design Methodology, Control Strategy, and Performance Evaluation for the Tip-scanning Atomic Force Microscope for the Industrial L » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2692366]
• Literatura piękna
 [1640460]

  więcej...
• Turystyka
 [61874]
• Informatyka
 [141681]
• Komiksy
 [32001]
• Encyklopedie
 [21632]
• Dziecięca
 [512964]
• Hobby
 [106747]
• AudioBooki
 [1972]
• Literatura faktu
 [199610]
• Muzyka CD
 [449]
• Słowniki
 [2692]
• Inne
 [407049]
• Kalendarze
 [1350]
• Podręczniki
 [161483]
• Poradniki
 [408221]
• Religia
 [455343]
• Czasopisma
 [420]
• Sport
 [59293]
• Sztuka
 [223844]
• CD, DVD, Video
 [3716]
• Technologie
 [206139]
• Zdrowie
 [88029]
• Książkowe Klimaty
 [118]
• Zabawki
 [2574]
• Puzzle, gry
 [3157]
• Literatura w języku ukraińskim
 [262]
• Art. papiernicze i szkolne
 [9771]
Kategorie szczegółowe BISAC

High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope : Design Methodology, Control Strategy, and Performance Evaluation for the Tip-scanning Atomic Force Microscope for the Industrial L

ISBN-13: 9783639002706 / Angielski / Miękka / 2013 / 136 str.

Dong-Yeon Lee
High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope : Design Methodology, Control Strategy, and Performance Evaluation for the Tip-scanning Atomic Force Microscope for the Industrial L Dong-Yeon Lee 9783639002706 VDM Verlag - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope : Design Methodology, Control Strategy, and Performance Evaluation for the Tip-scanning Atomic Force Microscope for the Industrial L

ISBN-13: 9783639002706 / Angielski / Miękka / 2013 / 136 str.

Dong-Yeon Lee
cena 267,62 zł
(netto: 254,88 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 265,77 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 10-14 dni roboczych.

Darmowa dostawa!
Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Computers > General
Wydawca:
VDM Verlag
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783639002706
Rok wydania:
2013
Ilość stron:
136
Waga:
0.21 kg
Wymiary:
0x22x0
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Lee, Dong-Yeon After finishing the Ph. D. degree at KAIST(Korea Advanced Institute of Science and Technology), he is working at KERI(Korea Electrotechnology Research Institute). His research fields are the scanning probe microscopy and the nano-lithography system. Specially, he is very interested in the nano-design.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia