• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949965]
• Literatura piękna
 [1857847]

  więcej...
• Turystyka
 [70818]
• Informatyka
 [151303]
• Komiksy
 [35733]
• Encyklopedie
 [23180]
• Dziecięca
 [617748]
• Hobby
 [139972]
• AudioBooki
 [1650]
• Literatura faktu
 [228361]
• Muzyka CD
 [398]
• Słowniki
 [2862]
• Inne
 [444732]
• Kalendarze
 [1620]
• Podręczniki
 [167233]
• Poradniki
 [482388]
• Religia
 [509867]
• Czasopisma
 [533]
• Sport
 [61361]
• Sztuka
 [243125]
• CD, DVD, Video
 [3451]
• Technologie
 [219309]
• Zdrowie
 [101347]
• Książkowe Klimaty
 [123]
• Zabawki
 [2362]
• Puzzle, gry
 [3791]
• Literatura w języku ukraińskim
 [253]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7933]
Kategorie szczegółowe BISAC

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

ISBN-13: 9781489988478 / Angielski / Miękka / 2014 / 193 str.

Stephan Eggersgluss;Rolf Drechsler
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss Rolf Drechsler  9781489988478 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

ISBN-13: 9781489988478 / Angielski / Miękka / 2014 / 193 str.

Stephan Eggersgluss;Rolf Drechsler
cena 414,77 zł
(netto: 395,02 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 396,31 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!
inne wydania

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is presented which is also able to generate high-quality delay tests such as robust path delay tests, as well as tests with long propagation paths to detect small delay defects. The aim of the techniques and methodologies presented in this book is to improve SAT-based ATPG, in order to make it applicable in industrial practice. Readers will learn to improve the performance and robustness of the overall test generation process, so that the ATPG algorithm reliably will generate test patterns for most targeted faults in acceptable run time to meet the high fault coverage demands of industry. The techniques and improvements presented in this book provide the following advantages:

  • Provides a comprehensive introduction to test generation and Boolean Satisfiability (SAT);
  • Describes a highly fault efficient SAT-based ATPG framework;
  • Introduces circuit-oriented SAT solving techniques, which make use of structural information and are able to accelerate the search process significantly;
  • Provides SAT formulations for the prevalent delay faults models, in addition to the classical stuck-at fault model;
  • Includes an industrial perspective on the state-of-the-art in the testing, along with SAT; two topics typically distinguished from each other.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Computers > Computer Architecture
Computers > Hardware - Mainframes & Minicomputers
Technology & Engineering > Electronics - Microelectronics
Wydawca:
Springer
Język:
Angielski
ISBN-13:
9781489988478
Rok wydania:
2014
Wydanie:
2012
Ilość stron:
193
Waga:
0.30 kg
Wymiary:
23.39 x 15.6 x 1.14
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Wydanie ilustrowane

Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT).  A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is presented which is also able to generate high-quality delay tests such as robust path delay tests, as well as tests with long propagation paths to detect small delay defects.

The aim of the techniques and methodologies presented in this book is to improve SAT-based ATPG, in order to make it applicable in industrial practice. Readers will learn to improve the performance and robustness of the overall test generation process, so that the ATPG algorithm reliably will generate test patterns for most targeted faults in acceptable run time to meet the high fault coverage demands of industry. The techniques and improvements presented in this book provide the following advantages:

  • Provides a comprehensive introduction to test generation and Boolean Satisfiability (SAT);
  • Describes a highly fault efficient SAT-based ATPG framework;
  • Introduces circuit-oriented SAT solving techniques, which make use of structural information and are able to accelerate the search process significantly;
  • Provides SAT formulations for the prevalent delay faults models, in addition to the classical stuck-at fault model;
  • Includes an industrial perspective on the state-of-the-art in the testing, along with SAT; two topics typically distinguished from each other.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia