• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946912]
• Literatura piękna
 [1852311]

  więcej...
• Turystyka
 [71421]
• Informatyka
 [150889]
• Komiksy
 [35717]
• Encyklopedie
 [23177]
• Dziecięca
 [617324]
• Hobby
 [138808]
• AudioBooki
 [1671]
• Literatura faktu
 [228371]
• Muzyka CD
 [400]
• Słowniki
 [2841]
• Inne
 [445428]
• Kalendarze
 [1545]
• Podręczniki
 [166819]
• Poradniki
 [480180]
• Religia
 [510412]
• Czasopisma
 [525]
• Sport
 [61271]
• Sztuka
 [242929]
• CD, DVD, Video
 [3371]
• Technologie
 [219258]
• Zdrowie
 [100961]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2341]
• Puzzle, gry
 [3766]
• Literatura w języku ukraińskim
 [255]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7810]
Kategorie szczegółowe BISAC

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

ISBN-13: 9781475784749 / Angielski / Miękka / 2013 / 250 str.

R. Dean Adams; R. Dean Adams
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test Adams, R. Dean 9781475784749 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

ISBN-13: 9781475784749 / Angielski / Miękka / 2013 / 250 str.

R. Dean Adams; R. Dean Adams
cena 603,81
(netto: 575,06 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 578,30
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!
inne wydania

Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electronics - Circuits - General
Technology & Engineering > Electrical
Computers > Design, Graphics & Media - CAD-CAM
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Frontiers in Electronic Testing
Język:
Angielski
ISBN-13:
9781475784749
Rok wydania:
2013
Wydanie:
2003
Ilość stron:
250
Waga:
0.37 kg
Wymiary:
23.39 x 15.6 x 1.42
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Glosariusz/słownik
Wydanie ilustrowane

From the reviews:

"Fulfilling a need in the industry and a need in the literature, the book is certain to stimulate a heightened research interest in memory test, memory design, and memory elf test, each of which by itself constitutes an intriguing subject. The observations and approaches of the book make it a most useful work for the professional and the researcher in helping them understand the memories that are being tested." (Current Engineering Practice, Vol. 47, 2002-2003)

Preface. Section I: Design & Test of Memories. 1. Opening Pandora's Box. 2. Static Random Access Memories. 3. Multi-Port Memories. 4. Silicon On Insulator Memories. 5. Content Addressable Memories. 6. Dynamic Random Access Memories. 7. Non-Volatile Memories. Testing II: Memory Testing. 8. Memory Faults. 9. Memory Patterns. Section III: Memory Self Test. 10. BIST Concepts. 11. State Machine BIST. 12. Micro-Code BIST. 13. BIST and Redundancy. 14. Design For Test and BIST. 15. Conclusions. Appendices. Appendix A. Further Memory Fault Modeling. Appendix B. Further Memory Test Patterns. Appendix C. State Machine HDL. References. Glossary/Acronyms. Index. About the Author.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia