• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Electromagnetic Modeling with Wave Tilt and Reflection Coefficient » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946912]
• Literatura piękna
 [1852311]

  więcej...
• Turystyka
 [71421]
• Informatyka
 [150889]
• Komiksy
 [35717]
• Encyklopedie
 [23177]
• Dziecięca
 [617324]
• Hobby
 [138808]
• AudioBooki
 [1671]
• Literatura faktu
 [228371]
• Muzyka CD
 [400]
• Słowniki
 [2841]
• Inne
 [445428]
• Kalendarze
 [1545]
• Podręczniki
 [166819]
• Poradniki
 [480180]
• Religia
 [510412]
• Czasopisma
 [525]
• Sport
 [61271]
• Sztuka
 [242929]
• CD, DVD, Video
 [3371]
• Technologie
 [219258]
• Zdrowie
 [100961]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2341]
• Puzzle, gry
 [3766]
• Literatura w języku ukraińskim
 [255]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7810]
Kategorie szczegółowe BISAC

Electromagnetic Modeling with Wave Tilt and Reflection Coefficient

ISBN-13: 9783838377421 / Angielski / Miękka / 2010 / 380 str.

Vitalis Chidi Ozebo;Joseph A Olowofela
Electromagnetic Modeling with Wave Tilt and Reflection Coefficient Vitalis Chidi Ozebo, Joseph A Olowofela 9783838377421 LAP Lambert Academic Publishing - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Electromagnetic Modeling with Wave Tilt and Reflection Coefficient

ISBN-13: 9783838377421 / Angielski / Miękka / 2010 / 380 str.

Vitalis Chidi Ozebo;Joseph A Olowofela
cena 353,37
(netto: 336,54 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 353,37
Termin realizacji zamówienia:
ok. 10-14 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

This work aims at formulating models based on the Maxwell equations, using earth parameters such as conductivity, permeability, permittivity and surface wave impedance. Three measurable field parameters; Amplitude of the correction factor to the wave tilt, Q; phase of Q, and reflection coefficient were calculated from the model with various conductivity contrasts over a layered media. Two cases of a top layer overlying a more resistive basement and a conductive top layer overlying a resistive basement were considered with a radio frequency of 125kHz and a VLF of 20kHz, which are within the range of the far field and quasi-static approximations. The model was tested using data from existing models and was then applied to homogeneous and layered earth media. The results from the models reveal among others, that the phase of the Amplitude of the correction to the wave tilt is the most diagnostic of the changes in the layer parameters. It was also observed that the two modes of reflection coefficient (TM and TE) are always a mirror image of each other, for the two frequencies considered. The variation in the dielectric constant of the layers also reveal some facts worthy of note.

This work aims at formulating models based on the Maxwell equations, using earth parameters such as conductivity, permeability, permittivity and surface wave impedance. Three measurable field parameters; Amplitude of the correction factor to the wave tilt, Q; phase of Q,and reflection coefficient were calculated from the model with various conductivity contrasts over a layered media. Two cases of a top layer overlying a more resistive basement and a conductive top layer overlying a resistive basement were considered with a radio frequency of 125kHz and a VLF of 20kHz, which are within the range of the far field and quasi-static approximations. The model was tested using data from existing models and was then applied to homogeneous and layered earth media. The results from the models reveal among others, that the phase of the Amplitude of the correction to the wave tilt is the most diagnostic of the changes in the layer parameters. It was also observed that the two modes of reflection coefficient (TM and TE) are always a mirror image of each other, for the two frequencies considered. The variation in the dielectric constant of the layers also reveal some facts worthy of note.

Kategorie:
Nauka, Fizyka
Kategorie BISAC:
Science > Elektromagnetyzm
Wydawca:
LAP Lambert Academic Publishing
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783838377421
Rok wydania:
2010
Dostępne języki:
Angielski
Ilość stron:
380
Waga:
0.55 kg
Wymiary:
22.922.9 x 15.222.9 x 15.2 x 2
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01


Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia