• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Defects in Sio2 and Related Dielectrics: Science and Technology » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946600]
• Literatura piękna
 [1856966]

  więcej...
• Turystyka
 [72221]
• Informatyka
 [151456]
• Komiksy
 [35826]
• Encyklopedie
 [23190]
• Dziecięca
 [619653]
• Hobby
 [140543]
• AudioBooki
 [1577]
• Literatura faktu
 [228355]
• Muzyka CD
 [410]
• Słowniki
 [2874]
• Inne
 [445822]
• Kalendarze
 [1744]
• Podręczniki
 [167141]
• Poradniki
 [482898]
• Religia
 [510455]
• Czasopisma
 [526]
• Sport
 [61590]
• Sztuka
 [243598]
• CD, DVD, Video
 [3423]
• Technologie
 [219201]
• Zdrowie
 [101638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2473]
• Puzzle, gry
 [3898]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8170]
Kategorie szczegółowe BISAC

Defects in Sio2 and Related Dielectrics: Science and Technology

ISBN-13: 9780792366850 / Angielski / Twarda / 2000 / 624 str.

L. Skuja; D. L. Griscom; G. Pacchioni
Defects in Sio2 and Related Dielectrics: Science and Technology Pacchioni, Gianfranco 9780792366850 Kluwer Academic Publishers - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Defects in Sio2 and Related Dielectrics: Science and Technology

ISBN-13: 9780792366850 / Angielski / Twarda / 2000 / 624 str.

L. Skuja; D. L. Griscom; G. Pacchioni
cena 806,99 zł
(netto: 768,56 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 771,08 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!
inne wydania

Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies.
This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Science > Physics - Crystallography
Technology & Engineering > Materials Science - General
Medical > Medycyna
Wydawca:
Kluwer Academic Publishers
Język:
Angielski
ISBN-13:
9780792366850
Rok wydania:
2000
Wydanie:
2000
Numer serii:
000318534
Ilość stron:
624
Waga:
1.05 kg
Wymiary:
23.39 x 15.6 x 3.51
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia
Wydanie ilustrowane

Preface. Structure and Topology. Defect-free vitreous networks: The idealised structure of SiO2 and related glasses; A.C. Wright. Topology and topological disorder in silica; L.W. Hobbs, X. Yuan. Bulk Defects. Optical properties of defects in silica; L. Skuja. The natures of point defects in amorphous silicon dioxide; D.L. Griscom. Ab initio theory of point defects in SiO2; G. Pacchioni. A demi-century of magnetic defects in alpha-quartz; J.A. Weil. Interaction of SiO2 glasses with high energy ion beams and vacuum UV excimer laser pulses; H. Hosono, K. Kawamura. Excitons, localized states in silicon dioxide and related crystals and glasses; A.N. Trukhin. Gamma rays induced conversion of native defects in natural silica; F.M. Gelardi, S. Agnello. Ge and Sn doping in silica: structural changes, optically active defects, paramagnetic sites; A. Paleari. Computational studies of self-trapped excitons in silica; L.R. Corrales, et al. Surface Defects. Defects on activated silica surface; V.A. Radzig. Ab-initio molecular dynamics simulation of amorphous silica surface; M. Bernasconi. Bragg Grating. periodic UV-induced index modulations in doped-silica optical fibers: formation and properties of the fiber Bragg grating; C.G. Askins. Bulk silicas prepared by low presssure plasma CVD: formation of structure and point defects; K.M. Golant. Change of spectroscopic and structural properties of germanosilicate glass uner mechanical compression and UV irradiation; V.M. Machinsky. UV photoinduced phenomena in oxygen-deficient silica glasses; A. Rybaltovskii. One- and two-quantum UV photo-reactions in pure and doped silica glasses. 2. Germanium oxygen deficient centers (GODC). V.N. Bagratashvili, et al. Photoinduced refractive index change and second harmonic generation in MCVD germanosilicate core fibers fabricated in reduced (nitrogen and helium) atmospheres; E.M. Dianov, et al. Si/SiO2 Interface and Gate Dielectrics. Molecular hydrogen interaction kinetics of interfacial Si dangling bonds in thermal (111)Si/SiO2. An electron spin resonance saga; A.L. Stesmans. Ultrathin oxide films for advanced gate dielectrics applications Current progress and future challenges; E.P. Gusev. SiC/SiO2 interface defects; V.V. Afanas'ev. Point defects in Si-SiO2 systems: current understanding; S.P. Karna, et al. Index.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia