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Charakterisierung von HF-Transistoren
ISBN-13: 9783639360875 / Niemiecki / Miękka / 2011 / 100 str.
Die Simulationsprogramme fur Schaltungsaufbauten werden immer besser. Die Zuverlassigkeit der Simulation wird dabei durch die Genauigkeit der Element-Modelle bestimmt. Dieses Buch beschreibt die Messmethoden SOLT, TRL und Deembedding zur Modellbildung von HF-Kleinsignal-Transistoren. In einem angewandten Beispiel werden diese Methoden miteinander verglichen. Das Thema richtet sich an Ingenieure und Techniker, welche sich in die Theorie der Modellbildung vertiefen und sie in der Praxis einsetzen wollen.
Die Simulationsprogramme für Schaltungsaufbauten werden immer besser. Die Zuverlässigkeit der Simulation wird dabei durch die Genauigkeit der Element-Modelle bestimmt. Dieses Buch beschreibt die Messmethoden SOLT, TRL und Deembedding zur Modellbildung von HF-Kleinsignal-Transistoren. In einem angewandten Beispiel werden diese Methoden miteinander verglichen. Das Thema richtet sich an Ingenieure und Techniker, welche sich in die Theorie der Modellbildung vertiefen und sie in der Praxis einsetzen wollen.
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