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Cad-Entwurfskontrolle in Der Mikroelektronik: Mit Einer Einführung in Den Entwurf Kundenspezifischer Schaltkreise » książka

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Kategorie szczegółowe BISAC

Cad-Entwurfskontrolle in Der Mikroelektronik: Mit Einer Einführung in Den Entwurf Kundenspezifischer Schaltkreise

ISBN-13: 9783519024767 / Niemiecki / Miękka / 1985 / 213 str.

Wolfgang Nebel
Cad-Entwurfskontrolle in Der Mikroelektronik: Mit Einer Einführung in Den Entwurf Kundenspezifischer Schaltkreise Nebel, Wolfgang 9783519024767 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Cad-Entwurfskontrolle in Der Mikroelektronik: Mit Einer Einführung in Den Entwurf Kundenspezifischer Schaltkreise

ISBN-13: 9783519024767 / Niemiecki / Miękka / 1985 / 213 str.

Wolfgang Nebel
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Das vor1iegende Buch entstand aus einem Skript zur Vor1esung "CAD-Hi1fsmitte1 zur Entwurfskontro11e hochinte grierter Digita1scha1tungen." Diese Vor1esung wird seit 1983 von mir unter wissenschaft1icher Verantwortung von Herrn Prof. Dr.-Ing. R. W. Hartenstein geha1ten. Sie ist Bestandteil des Hauptstudiums Informatik der Universitat Kaisers1autern. Neben einer grund1ichen Uberarbeitung wurde das Skript im wesent1ichen um zwei einfuhrende Kapite1 erganzt. Das erste gibt dem Leser in knapper Form einen Einstieg in die NMOS-Scha1tungstechnik. Dieses Kapite1 richtet sich insbesondere an zwei Leserschichten: Erstens den Informatiker, der CAD-Hi1fsmittel entwerfen wi1l und eine einfache Darste11ung der e1ektrotechnischen Hintergrunde sucht. Der zweite Personenkreis sind Entwick1er e1ektronischer Scha1tungen, denen dieses Kapite1 a1s Einfuhrung in den Entwurf kundenspezifischer Scha1tungen dienen kann. In beide Leserkreise beziehe ich auch Studenten der entsprechenden Fachrichtungen ein. Das Kapite1 geht bewusst nicht auf festkorperphysika1ische Einze1heiten und komp1izierte Transistormode11e ein. Es orientiert sich vie1mehr am bekannten' Lehrbuch "Introduction to VLSI Systems" von Carver Mead und Lynn Conway /9/. Ich bitte a11e Ha1b1eiter-Physiker und Techno1ogen, diese Abstraktion zu verzeihen. Das zweite Kapite1 gibt eine Ubersicht uber die verschiedenen Schritte, die von einer Scha1tungsidee bis zum fertigen Chip fuhren. Hier werden die verschi denen Betrachtungsebenen wahrend der Entwurfsphase und die CAD-Werkzeuge, die in den verschiedenen Abstraktionsebenen zur Verfugung stehen, aUfgezeigt. In diesem Kapite1 werden die Grund1agen fur einen strukturierten SChaltungsentwurf ge1egt, dessen grundsatz1iche Bedeutung ich im gesamten Buch hervorhebe. 6 Vorwort Kapitel 3 und 4 befassen sich mit zwei Schwerpunkten der Entwurfskontrolle integrierter Schaltungen. dem Design Rule-Check und der Schaltkreisextraktion. Zu beiden Gebieten werden unterschiedliche Losungsmoglichkeiten vorgestellt

Kategorie:
Inne
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Engineering (General)
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Xleitfaden Der Angewandten Informatik
Język:
Niemiecki
ISBN-13:
9783519024767
Rok wydania:
1985
Wydanie:
1985
Numer serii:
000463308
Ilość stron:
213
Waga:
0.31 kg
Wymiary:
23.39 x 15.6 x 1.17
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Einführung.- 1 Nmos Schaltungstechnik.- 1.1 Einführung.- 1.2 Transistoren.- 1.2.1 Der Selbstsperrende NMOS-Transistor.- 1.2.2 Der Selbstleitende NMOS-Transistor.- 1.2.3 Technologie.- 1.3 Verbindungstechnik.- 1.3.1 Verbindungen Innerhalb Einer Ebene.- 1.3.2 Verbindungen Zwischen Ebenen.- 1.4 Einfache NMOS-Schaltungen.- 1.4.1 Der Inverter.- 1.4.2 Das NAND-Gatter.- 1.4.3 Das NOR-Gatter.- 1.4.4 Allgemeine Einstufige NMOS-Schaltungen.- 1.4.5 Der PASS-Transistor.- 2 Der VLSI Entwurfsprozess.- 2.1 Die Funktionalebene.- 2.2 Die Register-Transfer-Beschreibung.- 2.3 Die Logikebene.- 2.4 Die Schaltkreisebene.- 2.5 Die Layout-Ebene.- 3 Topographische Layoutkontrolle.- 3.1 Polygon-Orientierter Design-Rule-Check.- 3.1.1 Logische Operationen auf Layer.- 3.1.2 Design-Rule-Check-Algorithmen.- 3.1.2.1 Vergleich Innenlage.- 3.1.2.2 Schnittpunktsermittlung.- 3.1.2.3 Schrumpfen und Expandieren von Symbolen.- 3.1.2.4 Problematik des Expandierens.- 3.2 Raster-Orientierter Design-Rule-Check.- 3.2.1 Logische Operationen auf Layer.- 3.2.2 Design-Rule-Check-Algorithmen.- 3.2.3 Partitionierung beim Raster-Orientierten Design-Rule-Check.- 3.2.4 Design-Rule-Checker-Maschine.- 3.3 Hierarchischer Design-Rule-Check.- 4 Schaltkreisextraktion.- 4.1 Polygon-Orientierte Schaltkreisextraktion.- 4.1.1 Ermittlung der Netzliste Einer Schaltung aus dem Layout.- 4.1.2 Parasitäre Kapazitäten.- 4.1.2.1 Ursache Parasitärer Kapazitäten.- 4.1.2.2 Extraktion Parasitärer Kapazitäten.- 4.1.2.2.1 Flächenberechnung.- 4.1.2.2.2 Umfangsberechnung.- 4.1.3 Parasitäre Widerstände.- 4.1.3.1 Flächenaufspaltung von Leitungen.- 4.1.3.2 Bestimmung der Hauptstromrichtung.- 4.1.3.3 Parametrisiertes Widerstandsmodell.- 4.1.3.4 Schwächen der Widerstandsberechnung.- 4.2 Raster-Orientierte Schaltkreisextraktion.- 4.2.1 Ermittlung der Netzliste.- 4.2.1.1 Ermittlung der Knoten der Schaltung.- 4.2.1.2 Ermittlung der Transistoranschlüsse.- 4.2.2 Kapazitätsberechnung.- 4.2.3 Widerstandsberechnung.- 4.2.4 Extraktionsmaschine.- 4.3 Hierarchische Schaltkreisextraktion.- 5 Logikextraktion.- 5.1 Knotenklassifizierung.- 5.2 Der Netzwerkbaum.- 5.3 Pfadermittlung.- 5.4 Gesamtlogik.- 5.5 Rückkopplungen.- 6 RT-Extraktion.- 6.1 RT-Extraktion auf Gatterebene.- 6.2 RT-Extraktion Funktionaler Blöcke.- 6.2.1 RT-Extraktion Durch Synthese.- 6.2.2 Analytische RT-Extraktion.- 6.3 RT-Extraktion der Gesamtschaltung.- 7 Vergleich von Netzwerken.



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