Applications de la diffraction des rayons X en génie civil

ISBN-13: 9786205160817 / Francuski / Miękka / 72 str.

Nishikant K. Dhapekar

Opis

La diffraction des rayons X est une technique non-destructive très puissante pour caractériser les matériaux cristallins. Elle donne des informations sur les structures, les phases, les orientations cristallines préférées et d'autres paramètres structurels, comme la taille moyenne des grains, le cristallin, la déformation et les défauts cristallins. Les pics de diffraction des rayons X sont causés par l'interférence constructive d'un faisceau monochromatique de rayons X diffusés à des angles particuliers à partir de chaque ensemble de plans de réseau au cours d'un spécimen. Les intensités des pics sont observées par la distribution des atomes dans le réseau. Par conséquent, le modèle de diffraction des rayons X est l'empreinte digitale des arrangements atomiques périodiques dans un matériau donné. Cette revue résume les tendances scientifiques liées au développement rapide de la technique de diffraction des rayons X au cours des cinq dernières années dans les domaines de la pharmacie, de la médecine légale, des applications géologiques, de la fabrication du verre, du génie civil, ainsi que de l'analyse de la corrosion.

O autorze

N. K. Dhapekar est professeur adjoint et responsable du département de génie civil de l'université de Kalinga, Chhattisgarh, Inde. Il possède une riche expérience dans l'enseignement, la recherche et le conseil industriel depuis environ 20 ans, au cours desquels il a supervisé de nombreux chercheurs et des missions de conseil à l'étranger.