• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946600]
• Literatura piękna
 [1856966]

  więcej...
• Turystyka
 [72221]
• Informatyka
 [151456]
• Komiksy
 [35826]
• Encyklopedie
 [23190]
• Dziecięca
 [619653]
• Hobby
 [140543]
• AudioBooki
 [1577]
• Literatura faktu
 [228355]
• Muzyka CD
 [410]
• Słowniki
 [2874]
• Inne
 [445822]
• Kalendarze
 [1744]
• Podręczniki
 [167141]
• Poradniki
 [482898]
• Religia
 [510455]
• Czasopisma
 [526]
• Sport
 [61590]
• Sztuka
 [243598]
• CD, DVD, Video
 [3423]
• Technologie
 [219201]
• Zdrowie
 [101638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2473]
• Puzzle, gry
 [3898]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8170]
Kategorie szczegółowe BISAC

Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

ISBN-13: 9780387257426 / Angielski / Twarda / 2005 / 182 str.

Prithviraj Kabisatpathy; Alok Barua; Satyabroto Sinha
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits Prithviraj Kabisatpathy Alok Barua Satyabroto Sinha 9780387257426 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

ISBN-13: 9780387257426 / Angielski / Twarda / 2005 / 182 str.

Prithviraj Kabisatpathy; Alok Barua; Satyabroto Sinha
cena 403,47 zł
(netto: 384,26 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 385,52 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

Enables the reader to test an analog circuit that is implemented either in bipolar or MOS technology. Examines the testing and fault diagnosis of analog and analog part of mixed signal circuits. Covers the testing and fault diagnosis of both bipolar and Metal Oxide Semiconductor (MOS) circuits and introduces . Also contains problems that can be used as quiz or homework.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electrical
Technology & Engineering > Electronics - Circuits - Integrated
Technology & Engineering > Industrial Design - Product
Wydawca:
Springer
Język:
Angielski
ISBN-13:
9780387257426
Rok wydania:
2005
Wydanie:
2005
Ilość stron:
182
Waga:
0.47 kg
Wymiary:
24.54 x 16.46 x 1.5
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Wydanie ilustrowane

Fault and Fault Modelling.- Test Stimulus Generation.- Fault Diagnosis Methodology.- Design for Testability and Built-In Self-Test.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia